Usado Metrologia / Inspeção (Semicondutores)

RUDOLPH Meta Pulse 300

• Fabricante: Rudolph

Tamanho do wafer: 12" | Processo: MEDIÇÃO DA ESPESSURA DO METAL | Envio: EXW

KLA_TENCOR PROMETRIX FT750

• Fabricante: KLA_TENCOR

Processo: MEDIÇÃO DA ESPESSURA DO FILME | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

KLA TENCOR P-15

• Fabricante: KLA-Tencor
• Modelo: P-15

HSEB AXIOSPECT 300

• Fabricante: HSEB
• Modelo: AXIOSPECT 300

Envio: EXW

2008 RUDOLPH NSK 105

• Fabricante: Rudolph

Envio: EXW

2000 RUDOLPH METAPULSE200

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

2014 Lasertec BGM300

• Fabricante: Lasertec

Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW

2001 Rudolph Metapulse 200X CU

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

2005 Rudolph Metapulse 200

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

2008 Rudolph Metapulse Metapulse II 200X CU

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

2004 RUDOLPH METAPULSE200

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

2003 Rudolph Metapulse 200X cu

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

1997 Tridimensional Manual Tesa Microval (XYZ) 400 x 500 x 400 mm

• Fabricante: Tesa

Tridimensional marca Mitutoyo modelo Cristal Plus M 574 Manual

• Fabricante: Mitutoyo

1997 Tridimensional Manual marca Mitutoyo modelo Bright M-507

• Fabricante: Mitutoyo