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Usado Valley Metrologia / Inspeção (Semicondutores)

  • 2011 Jordan valley semiconductors JVX6200I

    2011 Jordan valley semiconductors JVX6200I

    • Fabricante: Valley
    • Modelo: JVX6200I

    Tamanho do wafer: 12" | Processo: Metrologia de raios X (refletividade de raios X) | Envio: EXW

    Coreia do Sul