Usado Metrologia / Inspeção (Semicondutores)

2002 MDC SIGNATION

• Fabricante: MDC

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

2000 KLA UV-1080

• Fabricante: KLA-Tencor

Tamanho do wafer: 6", 8" | Processo: MET | Envio: EXW

LASER&PHYSICS SISCAN-2-M7325

• Fabricante: LASER&PHYSICS

Processo: Máquina de teste de máscara | Tamanho do wafer: N / D | Envio: EXW

2006 HITACHI HD2300A

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: HD-2300A

Tamanho do wafer: N / D | Processo: Microscópio eletrônico de transmissão de varredura (STEM) | Envio: EXW

2011 HITACHI NB-5000

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: NB5000

Tamanho do wafer: N / D | Processo: FIB Sem | Envio: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• Fabricante: KLA_TENCOR

Processo: CI T1X0 REV.2 | Envio: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• Fabricante: KLA_TENCOR

Processo: CI T1X0 | Envio: EXW

METROLOGY Q230

• Fabricante: METROLOGY

Tamanho do wafer: 8"

2006 NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• Fabricante: Nanometrics

Tamanho do wafer: 12" | Envio: EXW

METROLOGY P2

• Fabricante: METROLOGY

AMAT SEMVision

• Fabricante: Amat
• Modelo: Semvision

Tamanho do wafer: 12" | Envio: EXW

HITACHI FB 2100

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: FB-2100

KLA P20H

• Fabricante: KLA-Tencor
• Modelo: P20H

Tamanho do wafer: 3

KLA-TENCOR P 12

• Fabricante: KLA-Tencor
• Modelo: P-12

1996 BROOKS METARA 7200

• Fabricante: Brooks

Tamanho do wafer: 8" | Processo: SOBREPOSIÇÃO | Envio: EXW