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Lumentum - Surplus Semiconductor Fabrication Tools and Optical Communication Testers from Takao Japan Facility

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Usado Rudolph S3000A Metrologia / Inspeção (Semicondutores)

  • RUDOLPH S3000A

    RUDOLPH S3000A

    • usado

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: S3000A

    Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW | Processo: Elipsometria a laser de feixe focalizado

    Coreia do Sul
  • RUDOLPH S3000A

    RUDOLPH S3000A

    • usado

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: S3000A

    Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW

    Coreia do Sul
  • 2011 RUDOLPH S3000A

    2011 RUDOLPH S3000A

    • usado

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: S3000A

    Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW | Processo: Elipsometria a laser de feixe focalizado

    Coreia do Sul
  • 2011 RUDOLPH S3000A

    2011 RUDOLPH S3000A

    • usado

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: S3000A

    Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW | Processo: Elipsometria a laser de feixe focalizado

    Coreia do Sul
  • RUDOLPH S3000A

    RUDOLPH S3000A

    • usado

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: S3000A

    Tamanho do wafer: 12" | Processo: Elipsometria a laser de feixe focalizado | Envio: EXW

    Coreia do Sul
  • 2010 RUDOLPH S3000A

    2010 RUDOLPH S3000A

    • usado

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: S3000A

    Tamanho do wafer: 12" | Processo: Elipsometria a laser de feixe focalizado | Envio: EXW

    Coreia do Sul
  • 2011 RUDOLPH S3000A

    2011 RUDOLPH S3000A

    • usado

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: S3000A

    Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW | Processo: Elipsometria a laser de feixe focalizado

    Coreia do Sul
  • 2010 RUDOLPH S3000A

    2010 RUDOLPH S3000A

    • usado

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: S3000A

    Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW | Processo: Elipsometria a laser de feixe focalizado

    Coreia do Sul
  • 2010 RUDOLPH S3000A

    2010 RUDOLPH S3000A

    • usado

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: S3000A

    Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW | Processo: Elipsometria a laser de feixe focalizado

    Coreia do Sul
  • 2010 RUDOLPH S3000A

    2010 RUDOLPH S3000A

    • usado

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: S3000A

    Tamanho do wafer: 12" | Envio: EXW

    Coreia do Sul
  • 2010 RUDOLPH S3000A

    2010 RUDOLPH S3000A

    • usado

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: S3000A

    Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW | Processo: Elipsometria a laser de feixe focalizado

    Coreia do Sul
  • 2012 RUDOLPH S3000A

    2012 RUDOLPH S3000A

    • usado

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: S3000A

    Tamanho do wafer: 8" | Processo: Elipsometria a laser de feixe focalizado | Câmara: EXW

    Coreia do Sul