Usado Metrologia / Inspeção (Semicondutores)

RUDOLPH Meta Pulse 200

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MEDIÇÃO DA ESPESSURA DO FILME | Envio: EXW

2005 RUDOLPH MP200

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: MP200

RUDOLPH Meta Pulse 3

• Fabricante: Rudolph

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Medição da espessura do filme | Envio: EXW

RUDOLPH Meta Pulse 300

• Fabricante: Rudolph

Tamanho do wafer: 12" | Processo: MEDIÇÃO DA ESPESSURA DO METAL | Envio: EXW

KLA_TENCOR PROMETRIX FT750

• Fabricante: KLA_TENCOR

Processo: MEDIÇÃO DA ESPESSURA DO FILME | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

KLA TENCOR P-15

• Fabricante: KLA-Tencor
• Modelo: P-15

1997 Tridimensional Manual Tesa Microval (XYZ) 400 x 500 x 400 mm

• Fabricante: Tesa

Tridimensional marca Mitutoyo modelo Cristal Plus M 574 Manual

• Fabricante: Mitutoyo

1997 Tridimensional Manual marca Mitutoyo modelo Bright M-507

• Fabricante: Mitutoyo

Tridimensional marca Mitutoyo modelo BR-M443 Manual

• Fabricante: Mitutoyo