Usado Metrologia / Inspeção (Semicondutores)

2008 LASERTEC BGM 300

• usado

• Fabricante: Lasertec

Tamanho do wafer: 8" | Processo: SISTEMA DE ANÁLISE E VISUALIZAÇÃO DE SUPERFÍCIE DE WAFER | Envio: EXW

2003 RUDOLPH MP200

• usado

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: MP200

Tamanho do wafer: 8

2001 J.A.WOOLLAM VUV-VASE VU302(GENI)

• usado

• Fabricante: J.A.WOOLLAM

Tamanho do wafer: 8" | Processo: ELLIPSÔMETRO | Envio: EXW

RUDOLPH Meta Pulse

• usado

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Medição da espessura do filme | Envio: EXW

RUDOLPH Meta Pulse 300

• usado

• Fabricante: Rudolph

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Medição da espessura do filme | Envio: EXW

KLA TENCOR P-15

• usado

• Fabricante: KLA-Tencor
• Modelo: P-15

Tridimensional marca Mitutoyo modelo Cristal Plus M 574 Manual

• usado

• Fabricante: Mitutoyo

1997 Tridimensional Manual marca Mitutoyo modelo Bright M-507

• usado

• Fabricante: Mitutoyo

Tridimensional marca Mitutoyo modelo BR-M443 Manual

• usado

• Fabricante: Mitutoyo

1997 Tridimensional Manual Tesa Microval (XYZ) 400 x 500 x 400 mm

• usado

• Fabricante: Tesa