Usado Metrologia / Inspeção (Semicondutores)

2002 MDC SIGNATION

• Fabricante: MDC

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

2000 KLA UV-1080

• Fabricante: KLA-Tencor

Tamanho do wafer: 6", 8" | Processo: MET | Envio: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• Fabricante: KLA_TENCOR

Processo: CI T1X0 | Envio: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• Fabricante: KLA_TENCOR

Processo: CI T1X0 REV.2 | Envio: EXW

2004 RUDOLPH METAPULSE200

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

2000 RUDOLPH METAPULSE200

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

METROLOGY Q230

• Fabricante: METROLOGY

Tamanho do wafer: 8"

2014 Lasertec BGM300

• Fabricante: Lasertec

Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW

AMAT SEMVision

• Fabricante: Amat
• Modelo: Semvision

Tamanho do wafer: 12" | Envio: EXW

METROLOGY P2

• Fabricante: METROLOGY

2008 RUDOLPH NSK 105

• Fabricante: Rudolph

Envio: EXW

2006 NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• Fabricante: Nanometrics

Tamanho do wafer: 12" | Envio: EXW

HSEB AXIOSPECT 300

• Fabricante: HSEB
• Modelo: AXIOSPECT 300

Envio: EXW

2003 Rudolph Metapulse 200X cu

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

KLA-TENCOR P 12

• Fabricante: KLA-Tencor
• Modelo: P-12