Usado Metrologia / Inspeção (Semicondutores)

KLA P20H

• Fabricante: KLA-Tencor
• Modelo: P20H

Tamanho do wafer: 3

2006 NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• Fabricante: Nanometrics

Tamanho do wafer: 12" | Envio: EXW

AMAT SEMVision

• Fabricante: Amat
• Modelo: Semvision

Tamanho do wafer: 12" | Envio: EXW

HITACHI S 5000

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: S-5000

HITACHI S 5000

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: S-5000

KLA-TENCOR P 12

• Fabricante: KLA-Tencor
• Modelo: P-12

HITACHI S 5000

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: S-5000

1996 BROOKS METARA 7200

• Fabricante: Brooks

Tamanho do wafer: 8" | Processo: SOBREPOSIÇÃO | Envio: EXW

2013 HITACHI RS6000

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: RS-6000

Envio: EXW

1991 NIKON 3

• Fabricante: Nikon

Tamanho do wafer: 5" | Processo: ESTAÇÃO OPTI

2010 RUDOLPH S3000A

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: S3000A

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Elipsometria a laser de feixe focalizado | Envio: EXW

RUDOLPH WV320 MACRO

• Fabricante: Rudolph

Tamanho do wafer: 8" | Envio: EXW

2006 KLA CI T1X0

• Fabricante: KLA-Tencor

Envio: EXW

1990 KLA SFS7200

• Fabricante: KLA-Tencor
• Modelo: SFS7200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: Metrologia | Envio: EXW

1991 KLA SFS7200

• Fabricante: KLA-Tencor
• Modelo: SFS7200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: Metrologia | Envio: EXW