Equipamentos para semicondutores » Metrologia / Inspeção (semicondutores)

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Usado Metrologia / Inspeção (Semicondutores)

KLA TENCOR, P-10, Profilômetro de superfície (Windows DOS)
- Fabricante: KLA-Tencor
- Modelo: P-10
Número de série.: 03970318 | Quantidade: 1 | Detalhes do equipamento: Profilômetro de superfície (Windows DOS) | Equipamentos: Profilômetro de superfície | Descrição: Windows DOS
Suwon, Coreia do Sul
2000 KLA 2139
- Fabricante: KLA-Tencor
- Modelo: 2139
Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW
Coreia do Sul
LASER&PHYSICS SISCAN-2-M7325
- Fabricante: LASER&PHYSICS
Processo: Máquina de teste de máscara | Tamanho do wafer: N / D | Envio: EXW
Coreia do Sul
2002 MDC SIGNATION
- Fabricante: MDC
Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW
Coreia do Sul
2000 KLA UV-1080
- Fabricante: KLA-Tencor
Tamanho do wafer: 6", 8" | Processo: MET | Envio: EXW
Coreia do Sul
2006 HITACHI HD2300A
- Fabricante: Hitachi
- Modelo: HD-2300A
Tamanho do wafer: N / D | Processo: Microscópio eletrônico de transmissão de varredura (STEM) | Envio: EXW
Coreia do Sul
2011 HITACHI NB-5000
- Fabricante: Hitachi
- Modelo: NB5000
Tamanho do wafer: N / D | Processo: FIB Sem | Envio: EXW
Coreia do Sul
HITACHI S5500
- Fabricante: Hitachi
- Modelo: S-5500
Tamanho do wafer: N / D | Processo: FE Sem | Envio: EXW
Coreia do Sul
KLA_TENCOR CI T1X0
- Fabricante: KLA_TENCOR
Processo: CI T1X0 | Envio: EXW
Gyeonggi, Coreia do Sul
KLA_TENCOR CI T1X0
- Fabricante: KLA_TENCOR
Processo: CI T1X0 REV.2 | Envio: EXW
Gyeonggi, Coreia do Sul
2006 NANOMETRICS CALIPER_ULTRA
- Fabricante: Nanometrics
Tamanho do wafer: 12" | Envio: EXW
Gyeonggi, Coreia do Sul
AMAT SEMVision
- Fabricante: Amat
- Modelo: Semvision
Tamanho do wafer: 12" | Envio: EXW
Gyeonggi, Coreia do Sul
HITACHI S 5000
- Fabricante: Hitachi
- Modelo: S-5000
Gyeonggi, Coreia do Sul
HITACHI S 5000
- Fabricante: Hitachi
- Modelo: S-5000
Gyeonggi, Coreia do Sul
HITACHI S 5000
- Fabricante: Hitachi
- Modelo: S-5000
Gyeonggi, Coreia do Sul

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Resumo

A metrologia de semicondutores envolve a medição e análise de wafers e dispositivos semicondutores. Esta categoria inclui ferramentas e equipamentos usados para garantir a precisão e exatidão dos processos de fabricação de semicondutores. Esses instrumentos são vitais para o controle de qualidade, ajudando a detectar defeitos e garantir que os dispositivos atendam aos rigorosos padrões da indústria.

PERGUNTAS FREQUENTES

Quais fatores devo considerar ao comprar equipamentos de metrologia de semicondutores?

Considere a precisão de medição, a resolução e a compatibilidade do equipamento com seus processos específicos de semicondutores. Avalie os serviços de suporte do fornecedor e a facilidade de integração do equipamento em seus sistemas existentes.

Como posso garantir o envio seguro de equipamentos de metrologia de semicondutores?

Utilize um serviço de transporte especializado com experiência em manuseio de equipamentos sensíveis e de alta precisão. Certifique-se de que o equipamento esteja bem embalado com amortecimento adequado e instruções de manuseio.

Qual é o cronograma de manutenção para equipamentos de metrologia de semicondutores?

A calibração e a inspeção regulares são essenciais. Siga as diretrizes do fabricante para manutenção preventiva, incluindo a limpeza de componentes ópticos e a verificação de atualizações de software. Mantenha um registro de todas as atividades de manutenção.