Equipamentos para semicondutores » Metrologia / Inspeção (semicondutores)

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Usado Metrologia / Inspeção (Semicondutores)

2010 NANOMETRICS CALIPER_MOSAIC
- Fabricante: Nanometrics
- Modelo: CALIPERMOSAIC
Tamanho do wafer: 12" | Processo: Sobreposição | Envio: EXW`
Coreia do Sul
2012 RUDOLPH S3000A
- Fabricante: Rudolph
- Modelo: S3000A
Tamanho do wafer: 8" | Processo: Elipsometria a laser de feixe focalizado | Câmara: EXW
Coreia do Sul
KLA_TENCOR P-12
- Fabricante: KLA_TENCOR
Tamanho do wafer: 6",8" | Processo: PERFILADOR DE DISCO | Envio: EXW
Coreia do Sul
2010 BRUKER JVX6200
- Fabricante: Bruker
Processo: Metrô | Envio: EXW
Coreia do Sul
RUDOLPH FE-4D
- Fabricante: Rudolph
Tamanho do wafer: 8" | Processo: Elipsômetro de foco | Envio: EXW
Coreia do Sul
2008 LASERTEC BGM 300
- Fabricante: Lasertec
Tamanho do wafer: 8" | Processo: SISTEMA DE ANÁLISE E VISUALIZAÇÃO DE SUPERFÍCIE DE WAFER | Envio: EXW
Coreia do Sul
2003 RUDOLPH MP200
- Fabricante: Rudolph
- Modelo: MP200
Tamanho do wafer: 8
Coreia do Sul
2001 J.A.WOOLLAM VUV-VASE VU302(GENI)
- Fabricante: J.A.WOOLLAM
Tamanho do wafer: 8" | Processo: ELLIPSÔMETRO | Envio: EXW
Coreia do Sul
2005 RUDOLPH MP200
- Fabricante: Rudolph
- Modelo: MP200
Coreia do Sul
RUDOLPH Meta Pulse 3
- Fabricante: Rudolph
Tamanho do wafer: 12" | Processo: Medição da espessura do filme | Envio: EXW
Coreia do Sul
RUDOLPH Meta Pulse 300
- Fabricante: Rudolph
Tamanho do wafer: 12" | Processo: MEDIÇÃO DA ESPESSURA DO METAL | Envio: EXW
Coreia do Sul
KLA_TENCOR PROMETRIX FT750
- Fabricante: KLA_TENCOR
Processo: MEDIÇÃO DA ESPESSURA DO FILME | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW
Coreia do Sul
2000 RUDOLPH MP200
- Fabricante: Rudolph
- Modelo: MP200
Coreia do Sul
1998 RODOLPH Meta Pulse 200
- Fabricante: RODOLPH
Tamanho do wafer: 8 | 3 tamanho do wafer: 8" | Envio: EXW
Coreia do Sul
2003 RUDOLPH Meta Pulse 300
- Fabricante: Rudolph
Tamanho do wafer: 12" | Processo: Medição da espessura do filme
Coreia do Sul

Resumo

A metrologia de semicondutores envolve a medição e análise de wafers e dispositivos semicondutores. Esta categoria inclui ferramentas e equipamentos usados para garantir a precisão e exatidão dos processos de fabricação de semicondutores. Esses instrumentos são vitais para o controle de qualidade, ajudando a detectar defeitos e garantir que os dispositivos atendam aos rigorosos padrões da indústria.

PERGUNTAS FREQUENTES

Quais fatores devo considerar ao comprar equipamentos de metrologia de semicondutores?

Considere a precisão de medição, a resolução e a compatibilidade do equipamento com seus processos específicos de semicondutores. Avalie os serviços de suporte do fornecedor e a facilidade de integração do equipamento em seus sistemas existentes.

Como posso garantir o envio seguro de equipamentos de metrologia de semicondutores?

Utilize um serviço de transporte especializado com experiência em manuseio de equipamentos sensíveis e de alta precisão. Certifique-se de que o equipamento esteja bem embalado com amortecimento adequado e instruções de manuseio.

Qual é o cronograma de manutenção para equipamentos de metrologia de semicondutores?

A calibração e a inspeção regulares são essenciais. Siga as diretrizes do fabricante para manutenção preventiva, incluindo a limpeza de componentes ópticos e a verificação de atualizações de software. Mantenha um registro de todas as atividades de manutenção.