Usado Metrologia / Inspeção (Semicondutores)

HITACHI S4700-II

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: S 4700

Tamanho do wafer: 12" | Processo: FESEM com Horriba EMAX EDX | Envio: EXW

PUDOLPH Meta Pluse3

• Fabricante: PUDOLPH

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Medição da espessura do filme | Envio: EXW

2005 NANOMETRICS CALIPER_ELAN

• Fabricante: Nanometrics

Tamanho do wafer: 12" | Processo: SOBREPOSIÇÃO | Envio: EXW

2003 HITACHI RS 4000

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: RS 4000

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Revisão de defeitos Sem | Envio: EXW

2003 HITACHI RS4000

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: RS 4000

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Revisão de defeitos Sem | Envio: EXW

THERMO FISHER ECO 1000

• Fabricante: Thermo Fisher Scientific
• Modelo: ECO 1000

Processo: SISTEMA FTIR | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

JORDANVALLEY JVX6200

• Fabricante: JORDANVALLEY

Tamanho do wafer: 12"

2000 RUDOLPH MP200

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: MP200

1998 RODOLPH Meta Pulse 200

• Fabricante: RODOLPH

Tamanho do wafer: 8 | 3 tamanho do wafer: 8" | Envio: EXW

2003 RUDOLPH Meta Pulse 300

• Fabricante: Rudolph

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Medição da espessura do filme

KLA_TENCOR PROMETRIX FT750

• Fabricante: KLA_TENCOR

Processo: MEDIÇÃO DA ESPESSURA DO FILME | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

RUDOLPH Meta Pulse 200

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MEDIÇÃO DA ESPESSURA DO FILME | Envio: EXW

2010 Kobelco SBW-330

• Fabricante: Kobelco
• Modelo: SBW-330

Detalhes: Teste e metrologia de wafer | Remessa: A embalagem e o envio são de responsabilidade do comprador | Comentários: SBW-330 Teste e metrologia de wafer

2011 Jordan valley semiconductors JVX6200I

• Fabricante: Valley
• Modelo: JVX6200I

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Metrologia de raios X (refletividade de raios X) | Envio: EXW

1997 LG SEMICON CLS-9002

• Fabricante: LG SEMICON

Processo: 3ª INSPEÇÃO ÓPTICA | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW