Usado Metrologia / Inspeção (Semicondutores)

2011 HITACHI NB-5000

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: NB5000

Tamanho do wafer: N / D | Processo: FIB Sem | Envio: EXW

HITACHI S5500

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: S-5500

Tamanho do wafer: N / D | Processo: FE Sem | Envio: EXW

2008 RUDOLPH NSK 105

• Fabricante: Rudolph

Envio: EXW

2001 Rudolph Metapulse 200X CU

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

2005 Rudolph Metapulse 200

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

2008 Rudolph Metapulse Metapulse II 200X CU

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

2014 Lasertec BGM300

• Fabricante: Lasertec

Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW

HSEB AXIOSPECT 300

• Fabricante: HSEB
• Modelo: AXIOSPECT 300

Envio: EXW

2004 RUDOLPH METAPULSE200

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

2003 Rudolph Metapulse 200X cu

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

2000 RUDOLPH METAPULSE200

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

Durômetro Rockwell Normal Digital (HRC-HRB-HRA) marca Digimess

• Fabricante: Rockwell

Durômetro Rockwell Normal (HRC-HRB-HRA) New marca Digimess

• Fabricante: Rockwell

1997 Tridimensional Manual marca Mitutoyo modelo Bright M-507

• Fabricante: Mitutoyo

Durômetro Rockwell Normal / Superficial marca Digimess

• Fabricante: Wilson Rockwell