Building Filters
AS ONE, HHP-411, Placa de aquecimento
- Fabricante: As One
Número de série.: N / D | Quantidade: 1 | Detalhes do equipamento: Placa de aquecimento | Equipamentos: Placa de aquecimento | Descrição: 250x150mm, Temp 40~400℃ (±1℃)
Suwon, Coreia do Sul
CORNING, PC-600D, PLACA DE AQUECIMENTO
- Fabricante: Corning
- Modelo: PC-600D
Número de série.: N / D | Quantidade: 1 | Detalhes do equipamento: CHAPA QUENTE | Equipamentos: CHAPA QUENTE | Descrição: Temp 5~550℃, 10x10inch, 230V, 50Hz
Suwon, Coreia do Sul
Wise therm, HP-LP1, HOTPLATE
- Fabricante: Wise therm
Número de série.: HPLP1080110003 | Quantidade: 1 | Detalhes do equipamento: CHAPA QUENTE | Equipamentos: CHAPA QUENTE | Descrição: 620x310mm, Temp ~380℃
Suwon, Coreia do Sul
2012 MKS, 627D01TDC1B, transdutor de pressão Baratron
- Fabricante: MKS
Número de série.: 17305632 | Quantidade: 1 | Detalhes do equipamento: Transdutor de pressão Baratron | Equipamentos: Transdutor de pressão Baratron | Descrição: Faixa de 1 Torr
Suwon, Coreia do Sul
2011 Honeywell, Chemcassette, Fitas de detecção de gases tóxicos
- Fabricante: Honeywell
Número de série.: 3036-0529-4517 | Quantidade: 10 | Detalhes do equipamento: Fitas de detecção de gases tóxicos Chemcassette | Descrição: N / D
Suwon, Coreia do Sul
2005 TEL ALPHA 303I
- Fabricante: Tokyo Electron - TEL
- Modelo: Alpha-303i
Tamanho do wafer: 12" | Processo: ETCH | Envio: EXW
Coreia do Sul
Coreia do Sul
1996 NICOLET MAGNA 410 FT-IR
- Fabricante: Nicolet
- Modelo: MAGNA 410 FT-IR
Processo: Espectrômetro | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW
Coreia do Sul
MARTEQ VERTEQ SUPERCLEAN 1600
- Fabricante: Verteq
- Modelo: SUPERCLEAN 1600
Processo: SECADOR COM ENXÁGUE GIRATÓRIO | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW
Coreia do Sul
CARLZEISS AXIOTON
- Fabricante: CARLZEISS
Processo: MICROSCÓPIO DE INSPEÇÃO | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW
Coreia do Sul
LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
- Fabricante: Leica
Processo: Microscópio de inspeção de wafer | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW
Coreia do Sul
LEICA AG KENSINGTON 300901
- Fabricante: Leica
- Modelo: KENSINGTON 300901
Processo: Microscópio de inspeção de wafer | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW
Coreia do Sul
LEICA AG KENSINGTON 300901
- Fabricante: Leica
- Modelo: KENSINGTON 300901
Processo: Microscópio de inspeção de wafer | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW
Coreia do Sul
APPILED MATERIALS JEOL JWS-7500E
- Fabricante: Jeol
- Modelo: JWS-7500E
Tamanho do wafer: 8" | Processo: Sistema de inspeção de wafer | Envio: EXW
Coreia do Sul
CARLZEISS AXIOTON
- Fabricante: CARLZEISS
Processo: MICROSCÓPIO DE INSPEÇÃO | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW
Coreia do Sul