Equipamentos para semicondutores » Metrologia / Inspeção (semicondutores)

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por Capital Recovery Group

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Usado Metrologia / Inspeção (Semicondutores)

  • 2001 J.A.WOOLLAM VUV-VASE VU302(GENI)

    2001 J.A.WOOLLAM VUV-VASE VU302(GENI)

    • Fabricante: J.A.WOOLLAM

    Tamanho do wafer: 8" | Processo: ELLIPSÔMETRO | Envio: EXW

    Coreia do Sul
  • JEOL JWS-7500E

    JEOL JWS-7500E

    • Fabricante: Jeol
    • Modelo: JWS-7500E

    Tamanho do wafer: 8" | Processo: SISTEMA DE INSPEÇÃO DE WAFER | Envio: EXW

    Coreia do Sul
  • 2010 RUDOLPH WS3840

    2010 RUDOLPH WS3840

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: WS3840

    Tamanho do wafer: 12" | Processo: Metrologia de colisões 3d | Envio: EXW`

    Coreia do Sul
  • JEOL JWS-7515

    JEOL JWS-7515

    • Fabricante: Jeol
    • Modelo: JWS-7515

    Detalhes: Inspeção de wafer | Remessa: A embalagem e o envio são de responsabilidade do comprador | Comentários: Inspeção de wafer JEOL JWS-7515

    Coreia do Sul
  • 2006 HITACHI IS2700E

    2006 HITACHI IS2700E

    • Fabricante: Hitachi
    • Modelo: IS2700SE

    Tamanho do wafer: 12" | Detalhes: Inspeção de feixe E | Remessa: A embalagem e o envio são de responsabilidade do comprador | Comentários: Inspeção do feixe E da HITACHI IS2700SE

    Coreia do Sul
  • 2013 ATI OAK-1

    2013 ATI OAK-1

    • Fabricante: ATI

    Envio: EXW

    Coreia do Sul
  • NANOMETRICS CALPER-ULTRA

    NANOMETRICS CALPER-ULTRA

    • Fabricante: Nanometrics

    Tamanho do wafer: 12" | Envio: EXW

    Coreia do Sul
  • RUDOLPH S3000

    RUDOLPH S3000

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: S3000

    Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW

    Coreia do Sul
  • 2011 RUDOLPH S3000A

    2011 RUDOLPH S3000A

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: S3000A

    Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW | Processo: Elipsometria a laser de feixe focalizado

    Coreia do Sul
  • 2010 RUDOLPH S3000A

    2010 RUDOLPH S3000A

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: S3000A

    Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW | Processo: Elipsometria a laser de feixe focalizado

    Coreia do Sul
  • FEI FEM2010F

    FEI FEM2010F

    • Fabricante: FEI
    • Modelo: FEM2010F

    Detalhes: Feixe duplo | Remessa: A embalagem e o envio são de responsabilidade do comprador | Comentários: FEI FEM2010F Feixe duplo

    Coreia do Sul
  • 2003 NANOMETRICS CALIPER_MOSAIC

    2003 NANOMETRICS CALIPER_MOSAIC

    • Fabricante: Nanometrics
    • Modelo: CALIPERMOSAIC

    Tamanho do wafer: 12" | Processo: Sobreposição | Envio: EXW`

    Coreia do Sul
  • 2013 RODOLPH Meta Pulse 300

    2013 RODOLPH Meta Pulse 300

    • Fabricante: RODOLPH

    Tamanho do wafer: 12" | Processo: Medição da espessura do filme | Envio: EXW`

    Coreia do Sul
  • RODOLPH Meta Pulse 300

    RODOLPH Meta Pulse 300

    • Fabricante: RODOLPH

    Tamanho do wafer: 12" | Processo: Medição da espessura do filme | Envio: EXW`

    Coreia do Sul
  • J.A Woollam VUV-VASE

    J.A Woollam VUV-VASE

    • Fabricante: J.A Woollam

    Tamanho do wafer: 12" | Processo: Elipsômetro | Envio: EXW`

    Coreia do Sul
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