2010 RUDOLPH WS3840
- Fabricante: Rudolph
- Modelo: WS3840
Tamanho do wafer: 12" | Processo: Metrologia de colisões 3d | Envio: EXW`
Coreia do Sul
JEOL JWS-7515
- Fabricante: Jeol
- Modelo: JWS-7515
Detalhes: Inspeção de wafer | Remessa: A embalagem e o envio são de responsabilidade do comprador | Comentários: Inspeção de wafer JEOL JWS-7515
Coreia do Sul
2006 HITACHI IS2700E
- Fabricante: Hitachi
- Modelo: IS2700SE
Tamanho do wafer: 12" | Detalhes: Inspeção de feixe E | Remessa: A embalagem e o envio são de responsabilidade do comprador | Comentários: Inspeção do feixe E da HITACHI IS2700SE
Coreia do Sul
Coreia do Sul
Coreia do Sul
2011 RUDOLPH S3000A
- Fabricante: Rudolph
- Modelo: S3000A
Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW | Processo: Elipsometria a laser de feixe focalizado
Coreia do Sul
2011 RUDOLPH S3000A
- Fabricante: Rudolph
- Modelo: S3000A
Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW | Processo: Elipsometria a laser de feixe focalizado
Coreia do Sul
RUDOLPH S3000A
- Fabricante: Rudolph
- Modelo: S3000A
Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW | Processo: Elipsometria a laser de feixe focalizado
Coreia do Sul
Coreia do Sul
Coreia do Sul
HITACHI S4700-II
- Fabricante: Hitachi
- Modelo: S 4700
Tamanho do wafer: 12" | Processo: FESEM com Horriba EMAX EDX | Envio: EXW
Coreia do Sul
PUDOLPH Meta Pluse3
- Fabricante: PUDOLPH
Tamanho do wafer: 12" | Processo: Medição da espessura do filme | Envio: EXW
Coreia do Sul
2005 NANOMETRICS CALIPER_ELAN
- Fabricante: Nanometrics
Tamanho do wafer: 12" | Processo: SOBREPOSIÇÃO | Envio: EXW
Coreia do Sul
2003 HITACHI RS 4000
- Fabricante: Hitachi
- Modelo: RS 4000
Tamanho do wafer: 12" | Processo: Revisão de defeitos Sem | Envio: EXW
Coreia do Sul
2003 HITACHI RS4000
- Fabricante: Hitachi
- Modelo: RS 4000
Tamanho do wafer: 12" | Processo: Revisão de defeitos Sem | Envio: EXW
Coreia do Sul
Dica: informe o fabricante, modelo ou palavra-chave