Usado Equipamentos De Suporte (Semicondutores) in Coreia do Sul

WAFER MASTERS SAO-203LP

• Fabricante: WAFER MASTERS

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Recozimento do TSV Cu | Envio: EXW`

WONIK IPS MAHA HP

• Fabricante: WONIK IPS

Tamanho do wafer: 12" | Remessa: A embalagem e o envio são de responsabilidade do comprador | Comentários: WONIK IPS MAHA HP

OXFORD 800+ RIE

• Fabricante: OXFORD

Tamanho do wafer: 5" | Processo: RIE

MM FS4060

• Fabricante: MM

Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

2006 SIGMAMELTEC SFG3000

• Fabricante: SIGMAMELTEC

Tamanho do wafer: 12" | Processo: MÁSCARA DE FOTOGRAFIA | Envio: EXW

SUNGJIN SEMITECH ULTRA SONIC

• Fabricante: SUNGJIN SEMITECH

Processo: Limpador de wafer automático | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

1996 NICOLET MAGNA 410 FT-IR

• Fabricante: Nicolet
• Modelo: MAGNA 410 FT-IR

Processo: Espectrômetro | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

MARTEQ VERTEQ SUPERCLEAN 1600

• Fabricante: Verteq
• Modelo: SUPERCLEAN 1600

Processo: SECADOR COM ENXÁGUE GIRATÓRIO | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

CARLZEISS AXIOTON

• Fabricante: CARLZEISS

Processo: MICROSCÓPIO DE INSPEÇÃO | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

• Fabricante: Leica

Processo: Microscópio de inspeção de wafer | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

LEICA AG KENSINGTON 300901

• Fabricante: Leica
• Modelo: KENSINGTON 300901

Processo: Microscópio de inspeção de wafer | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

LEICA AG KENSINGTON 300901

• Fabricante: Leica
• Modelo: KENSINGTON 300901

Processo: Microscópio de inspeção de wafer | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

APPILED MATERIALS JEOL JWS-7500E

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JWS-7500E

Tamanho do wafer: 8" | Processo: Sistema de inspeção de wafer | Envio: EXW

CARLZEISS AXIOTON

• Fabricante: CARLZEISS

Processo: MICROSCÓPIO DE INSPEÇÃO | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

EXPEDIUS

Tamanho do wafer: 12" | Processo: DUMMY CLN | Envio: EXW