Usado Metrologia / Inspeção (Semicondutores)

RUDOLPH FE-3

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: FE-3

Tamanho da bolacha: 8" | Processar: Foco Elipsômetro | Envio: EXW

2008 RAYTEX RXW-800

• Fabricante: RAYTEX

Tamanho da bolacha: 8" | Processar: EDGE SCAN | Envio: EXW

2005 RUDOLPH MP200

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: MP200

RUDOLPH Meta Pulse 3

• Fabricante: Rudolph

Tamanho da bolacha: 12" | Processar: Medição da espessura do filme | Envio: EXW

RUDOLPH Meta Pulse 300

• Fabricante: Rudolph

Tamanho da bolacha: 12" | Processar: MEDIÇÃO DE THK DE METAL | Envio: EXW

KLA_TENCOR PROMETRIX FT750

• Fabricante: KLA_TENCOR

Processar: MEDIÇÃO DA ESPESSURA DO FILME | Tamanho da bolacha: * | Envio: EXW

KLA TENCOR P-15

• Fabricante: KLA-Tencor
• Modelo: P-15

Durômetro Rockwell Normal / Superficial marca Digimess

• Fabricante: Wilson Rockwell

1997 Tridimensional Manual Tesa Microval (XYZ) 400 x 500 x 400 mm

• Fabricante: Tesa

Súbito de Alta Precisão Marca Compac da Suíça de 1,50 a 4,30 mm

1997 Tridimensional Manual marca Mitutoyo modelo Bright M-507

• Fabricante: Mitutoyo

Bloco Padrão marca Mitutoyo Classe 0 de 1.005 a 100 mm

• Fabricante: Mitutoyo

Bloco Padrão marca Carl Zeiss Classe 0 de 0,5 a 100 mm

• Fabricante: Zeiss

Tridimensional marca Mitutoyo modelo BR-M443 Manual

• Fabricante: Mitutoyo