Usado Metrologia / Inspeção (Semicondutores)

FEI FEM2010F

• Fabricante: FEI
• Modelo: FEM2010F

Detalhes: Feixe duplo | Remessa: A embalagem e o envio são de responsabilidade do comprador | Comentários: FEI FEM2010F Feixe duplo

2003 NANOMETRICS CALIPER_MOSAIC

• Fabricante: Nanometrics
• Modelo: CALIPERMOSAIC

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Sobreposição | Envio: EXW`

2013 RODOLPH Meta Pulse 300

• Fabricante: RODOLPH

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Medição da espessura do filme | Envio: EXW`

RODOLPH Meta Pulse 300

• Fabricante: RODOLPH

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Medição da espessura do filme | Envio: EXW`

J.A Woollam VUV-VASE

• Fabricante: J.A Woollam

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Elipsômetro | Envio: EXW`

2001 HITACHI S4700-I

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: S-4700

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Microscópio eletrônico de varredura | Envio: EXW

RUDOLPH S3000A

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: S3000A

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Elipsometria a laser de feixe focalizado | Envio: EXW

1996 HITACHI S-4160

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: S-4160

Tamanho do wafer: 6",8" | Processo: FE SEM | Envio: EXW

LINDA IN5-HI

• Fabricante: LINDA

Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

RUDOLPH FE-3

• Fabricante: Rudolph

Tamanho do wafer: 8" | Processo: Elipsômetro de foco | Envio: EXW

2008 RAYTEX RXW-800

• Fabricante: RAYTEX

Tamanho do wafer: 8" | Processo: VARREDURA DE BORDA | Envio: EXW

RUDOLPH Meta Pulse

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Medição da espessura do filme | Envio: EXW

RUDOLPH Meta Pulse 300

• Fabricante: Rudolph

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Medição da espessura do filme | Envio: EXW

2005 RUDOLPH MP200

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: MP200

RUDOLPH Meta Pulse 3

• Fabricante: Rudolph

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Medição da espessura do filme | Envio: EXW