Usado Metrologia / Inspeção (Semicondutores)

2002 MDC SIGNATION

• Fabricante: MDC

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

2000 KLA UV-1080

• Fabricante: KLA-Tencor

Tamanho do wafer: 6", 8" | Processo: MET | Envio: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• Fabricante: KLA_TENCOR

Processo: CI T1X0 REV.2 | Envio: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• Fabricante: KLA_TENCOR

Processo: quemadores de la estufa | Envio: EXW

METROLOGY Q230

• Fabricante: METROLOGY

Tamanho do wafer: 8"

METROLOGY P2

• Fabricante: METROLOGY

2006 NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• Fabricante: Nanometrics

Tamanho do wafer: 12" | Envio: EXW

AMAT SEMVision

• Fabricante: Amat
• Modelo: Semvision

Tamanho do wafer: 12" | Envio: EXW

HITACHI FB 2100

• Fabricante: Hitachi

KLA P20H

• Fabricante: KLA-Tencor
• Modelo: P20H

Tamanho do wafer: 3

KLA-TENCOR P 12

• Fabricante: KLA-Tencor
• Modelo: P-12

1996 BROOKS METARA 7200

• Fabricante: Brooks

Tamanho do wafer: 8" | Processo: SOBREPOSIÇÃO | Envio: EXW

2013 HITACHI RS6000

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: RS 6000

Envio: EXW

1991 NIKON 3

• Fabricante: Nikon

Tamanho do wafer: 5" | Processo: ESTAÇÃO OPTI

2010 RUDOLPH S3000A

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: S3000A

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Elipsometria a laser de feixe focalizado | Envio: EXW