Usado Metrologia / Inspeção (Semicondutores)

1998 RODOLPH Meta Pulse 200

• Fabricante: RODOLPH

Tamanho do wafer: 8 | 3 tamanho do wafer: 8" | Envio: EXW

2003 RUDOLPH Meta Pulse 300

• Fabricante: Rudolph

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Medição da espessura do filme

KLA_TENCOR PROMETRIX FT750

• Fabricante: KLA_TENCOR

Processo: MEDIÇÃO DA ESPESSURA DO FILME | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

2006 NANOMETRICS CALIPER-ULTRA

• Fabricante: Nanometrics

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Sobreposição | Envio: EXW

RUDOLPH Meta Pulse 200

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MEDIÇÃO DA ESPESSURA DO FILME | Envio: EXW

KLA TENCOR P-15

• Fabricante: KLA-Tencor
• Modelo: P-15

1997 Tridimensional Manual Tesa Microval (XYZ) 400 x 500 x 400 mm

• Fabricante: Tesa

Tridimensional marca Mitutoyo modelo BR-M443 Manual

• Fabricante: Mitutoyo

Tridimensional marca Mitutoyo modelo Cristal Plus M 574 Manual

• Fabricante: Mitutoyo

1997 Tridimensional Manual marca Mitutoyo modelo Bright M-507

• Fabricante: Mitutoyo