Usado Metrologia / Inspeção (Semicondutores)

2003 Rudolph Metapulse 200X cu

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

Durômetro Rockwell Normal / Superficial marca Digimess

• Fabricante: Wilson Rockwell

1997 Tridimensional Manual Tesa Microval (XYZ) 400 x 500 x 400 mm

• Fabricante: Tesa

Durômetro Rockwell Normal Digital (HRC-HRB-HRA) marca Digimess

• Fabricante: Rockwell

Durômetro Rockwell Normal (HRC-HRB-HRA) New marca Digimess

• Fabricante: Rockwell

1997 Tridimensional Manual marca Mitutoyo modelo Bright M-507

• Fabricante: Mitutoyo

Tridimensional marca Mitutoyo modelo BR-M443 Manual

• Fabricante: Mitutoyo