Usado Teste E Medição

PLACA TOKYO ELECTRON TS 3286-004468-11 (WDF8DP) ENTRADA/SAÍDA (BR2.1B4)

• Fabricante: Tokyo Electron - TEL
• Modelo: WDF DP

Mpn: TS 3286-004468-11

TEL TOKYO ELECTRON 3381-000079-12 3308-000079-12 P-12XL PLACA DE LUZ DE PILHA PCB

• Fabricante: Tokyo Electron - TEL
• Modelo: P-12XL

Tipo de equipamento/componente: PLACA DE LUZ DE PILHA PCB P-12XL | Mpn: 3381-000079-12

PERCEPTICS IP940 PWB 082291 REV 03 COM MÓDULO DE PLACA DE CIRCUITO B1 PWB 040195 (U5.3)

• Fabricante: PERCEPTICS

Mpn: PWB 082291 REV 03 | Tipo de equipamento: MÓDULO DE PLACA DE CIRCUITO

TABULEIRO DE CONTROLE SUMITOMO JA761146KC JA761784DX (R6S6.4)

• Fabricante: Sumitomo

Mpn: JA761146KC | País/região de fabricação: Japão | Tipo de equipamento: PAINEL DE CONTROLE

PLACA DE INTERFACE HITACHI 1AA30017 (BR6.3)

• Fabricante: Hitachi

Mpn: 1AA30017 | Tipo de equipamento: PLACA DE INTERFACE

TEL TOKYO ELECTRON 3381-000079-12 3308-000079-12 P-12XL PLACA DE LUZ DE PILHA PCB

• Fabricante: Tokyo Electron - TEL
• Modelo: P-12XL

Tipo de equipamento/componente: PLACA DE LUZ DE PILHA PCB P-12XL | Mpn: 3381-000079-12

Gerador de RF Trumpf TruPlasma Coax 3010 10KW 1790270 e controlador de potência 1697081

• Fabricante: Trumpf

Mpn: 1697081 | País/região de fabricação: Alemanha | Tipo de equipamento: GERADOR RF

Estação de sonda analítica ALESSI INDUSTRIES REL-4100A com microscópio Mitutoyo

• Fabricante: Alessi
• Modelo: REL-4100

Mpn: REL-4100A | País/região de fabricação: Estados Unidos | Tipo de equipamento: Estação de Sonda

Omron VT-RNS

• Fabricante: Omron
• Modelo: VT-RNS

2003 Nikon, OPTIPHOT-300D, Microscópio de inspeção

• Fabricante: Nikon
• Modelo: Optiphot 300

Número de série.: 625331 | Quantidade: 1 | Detalhes do equipamento: Microscópio de inspeção | Equipamentos: Microscópio de inspeção | Descrição: 14x10 Stage, Wafer 12", 100-120V, 3A, 50/60Hz

2003 NIKON, OPTIPHOT-300D, Microscópio de inspeção

• Fabricante: Nikon
• Modelo: Optiphot 300

Número de série.: 625331 | Quantidade: 1 | Detalhes do equipamento: Microscópio de inspeção | Equipamentos: Microscópio de inspeção | Descrição: 14x10 Stage, Wafer 12", 100-120V, 3A, 50/60Hz

1999 PLASMOS, SD2002, ELIPSÔMETRO

• Fabricante: Plasmos

Número de série.: 5094.06.94 | Quantidade: 1 | Detalhes do equipamento: ELLIPSÔMETRO | Equipamentos: ELLIPSÔMETRO | Descrição: Wafer de 300 mm | Monitor de vídeo: 9M200A | Eletrofísica: Sistema de foco automático...

MKS, P99A-28229, Controlador de pressão

• Fabricante: MKS

Número de série.: 10XX09 | Quantidade: 1 | Detalhes do equipamento: Controlador de pressão | Equipamentos: Controlador de pressão | Descrição: Gás N2, faixa de 1000SCCM, 1000Torr

2012 KOH YOUNG, KY-7100, máquina de inspeção óptica automática 3D

• Fabricante: Koh Young
• Modelo: KY7100

Número de série.: AOI-S001 | Quantidade: 1 | Detalhes do equipamento: Máquina de inspeção óptica automática 3D | Equipamentos: Máquina de inspeção óptica automática 3D | Descrição: 208 VCA, 1 fase, 50/60 Hz

2010 AIT, AVIS-5000N, Sistema de inspeção de wafer de LED

• Fabricante: AIT

Número de série.: N / D | Quantidade: 1 | Detalhes do equipamento: Sistema de inspeção de wafer de LED | Equipamentos: Sistema de inspeção de wafer de LED | Descrição: Wafer 2~6"