Usado Teste E Medição

2010 AIT, AVIS-5000N, Sistema de inspeção de wafer de LED

• Fabricante: AIT

Número de série.: N / D | Quantidade: 1 | Detalhes do equipamento: Sistema de inspeção de wafer de LED | Equipamentos: Sistema de inspeção de wafer de LED | Descrição: Wafer 2~6"

2007 KOCUSAI VR120_SD

• Fabricante: KOCUSAI

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Sistema de teste de resistividade | Envio: EXW

1996 Nanometrics Nanospec8000

• Fabricante: Nanometrics
• Modelo: Nanospec

Processo: MET | Envio: EXW

2011 HMI eScan 400

• Fabricante: HMI
• Modelo: Escan 400

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Inspeção de defeitos do E-Beam | Envio: EXW

Chint Power Smart COMBOX - CHINT POWER

2005 RUDOLPH MP-300

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: MP 300

Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW

2008 RUDOLPH MP1-300XCU

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: MP 300

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Medição da espessura do filme | Envio: EXW

2007 RUDOLPH MP300

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: MP 300

Tamanho do wafer: 8" | Processo: Medição da espessura do filme | Envio: EXW

NEXTEST MAGNUM PV SCM

• Fabricante: SCM / SCMI

Tamanho do wafer: 8, 12" | Envio: EXW

NIKON AMI-3300

• Fabricante: Nikon
• Modelo: AMI-3300

Tamanho do wafer: 12" | Envio: EXW

2006 RUDOLPH MP-300

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: MP 300

Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW

2012 RUDOLPH MP3_300A

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: MP 300

Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW

RUDOLPH MP3_300XCU

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: MP 300

Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW

SECRON IP 300

• Fabricante: SECRON

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Prober | Envio: EXW`

2007 RUDOLPH RUDOLPH MP1-300

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: MP 300

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Medição da espessura do filme | Envio: EXW