Usado Metrologia / Inspeção (Semicondutores)

2001 Rudolph Metapulse 200X CU

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

2005 Rudolph Metapulse 200

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

2008 Rudolph Metapulse Metapulse II 200X CU

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

2000 RUDOLPH METAPULSE200

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

2004 RUDOLPH METAPULSE200

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

2003 Rudolph Metapulse 200X cu

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

Tridimensional marca Mitutoyo modelo Cristal Plus M 574 Manual

• Fabricante: Mitutoyo

1997 Tridimensional Manual marca Mitutoyo modelo Bright M-507

• Fabricante: Mitutoyo

1997 Tridimensional Manual Tesa Microval (XYZ) 400 x 500 x 400 mm

• Fabricante: Tesa

Tridimensional marca Mitutoyo modelo BR-M443 Manual

• Fabricante: Mitutoyo