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Lumentum - Surplus Semiconductor Fabrication Tools and Optical Communication Testers from Takao Japan Facility

por AllSurplus

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Usado Teste E Medição in Coreia do Sul

  • 2003 NIKON, OPTIPHOT-300D, Microscópio de

    2003 NIKON, OPTIPHOT-300D, Microscópio de inspeção

    • Fabricante: Nikon
    • Modelo: Optiphot 300

    Número de série.: 625331 | Quantidade: 1 | Detalhes do equipamento: Microscópio de inspeção | Equipamentos: Microscópio de inspeção | Descrição: 14x10 Stage, Wafer 12", 100-120V, 3A, 50/60Hz

    Suwon, Coreia do Sul
  • 1999 PLASMOS, SD2002, ELIPSÔMETRO

    1999 PLASMOS, SD2002, ELIPSÔMETRO

    • Fabricante: Plasmos

    Número de série.: 5094.06.94 | Quantidade: 1 | Detalhes do equipamento: ELLIPSÔMETRO | Equipamentos: ELLIPSÔMETRO | Descrição: Wafer de 300 mm | Monitor de vídeo: 9M200A | Eletrofísica: Sistema de foco automático...

    Suwon, Coreia do Sul
  • MKS, P99A-28229, Controlador de pressão

    MKS, P99A-28229, Controlador de pressão

    • Fabricante: MKS

    Número de série.: 10XX09 | Quantidade: 1 | Detalhes do equipamento: Controlador de pressão | Equipamentos: Controlador de pressão | Descrição: Gás N2, faixa de 1000SCCM, 1000Torr

    Suwon, Coreia do Sul
  • 2003 Nikon, OPTIPHOT-300D, Microscópio de

    2003 Nikon, OPTIPHOT-300D, Microscópio de inspeção

    • Fabricante: Nikon
    • Modelo: Optiphot 300

    Número de série.: 625331 | Quantidade: 1 | Detalhes do equipamento: Microscópio de inspeção | Equipamentos: Microscópio de inspeção | Descrição: 14x10 Stage, Wafer 12", 100-120V, 3A, 50/60Hz

    Suwon, Coreia do Sul
  • 2012 KOH YOUNG, KY-7100, máquina

    2012 KOH YOUNG, KY-7100, máquina de inspeção óptica automática 3D

    • Fabricante: Koh Young
    • Modelo: KY7100

    Número de série.: AOI-S001 | Quantidade: 1 | Detalhes do equipamento: Máquina de inspeção óptica automática 3D | Equipamentos: Máquina de inspeção óptica automática 3D | Descrição: 208 VCA, 1 fase, 50/60 Hz

    Suwon, Coreia do Sul
  • 2010 AIT, AVIS-5000N, Sistema de

    2010 AIT, AVIS-5000N, Sistema de inspeção de wafer de LED

    • Fabricante: AIT

    Número de série.: N / D | Quantidade: 1 | Detalhes do equipamento: Sistema de inspeção de wafer de LED | Equipamentos: Sistema de inspeção de wafer de LED | Descrição: Wafer 2~6"

    Suwon, Coreia do Sul
  • 2007 KOCUSAI VR120_SD

    2007 KOCUSAI VR120_SD

    • Fabricante: KOCUSAI

    Tamanho do wafer: 12" | Processo: Sistema de teste de resistividade | Envio: EXW

    Coreia do Sul
  • 1996 Nanometrics Nanospec8000

    1996 Nanometrics Nanospec8000

    • Fabricante: Nanometrics
    • Modelo: Nanospec

    Processo: MET | Envio: EXW

    Coreia do Sul
  • 2011 HMI eScan 400

    2011 HMI eScan 400

    • Fabricante: HMI
    • Modelo: Escan 400

    Tamanho do wafer: 12" | Processo: Inspeção de defeitos do E-Beam | Envio: EXW

    Coreia do Sul
  • 2004 KLA Viper 2435XP

    2004 KLA Viper 2435XP

    • Fabricante: KLA-Tencor
    • Modelo: Viper 2435

    Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW

    Gyeonggi, Coreia do Sul
  • 2005 RUDOLPH MP-300

    2005 RUDOLPH MP-300

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: MP 300

    Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW

    Gyeonggi, Coreia do Sul
  • 2004 KLA VIPER 2430

    2004 KLA VIPER 2430

    • Fabricante: KLA-Tencor
    • Modelo: Viper 2430

    Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW

    Gyeonggi, Coreia do Sul
  • 2004 KLA Viper 2435

    2004 KLA Viper 2435

    • Fabricante: KLA-Tencor
    • Modelo: Viper 2435

    Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW

    Gyeonggi, Coreia do Sul
  • 2008 RUDOLPH MP1-300XCU

    2008 RUDOLPH MP1-300XCU

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: MP 300

    Tamanho do wafer: 12" | Processo: Medição da espessura do filme | Envio: EXW

    Coreia do Sul
  • 2007 RUDOLPH MP300

    2007 RUDOLPH MP300

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: MP 300

    Tamanho do wafer: 8" | Processo: Medição da espessura do filme | Envio: EXW

    Coreia do Sul
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