Usado tester

1996 Nanometrics Nanospec8000

• Fabricante: Nanometrics
• Modelo: Nanospec

Processo: MET | Envio: EXW

2011 HMI eScan 400

• Fabricante: HMI
• Modelo: Escan 400

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Inspeção de defeitos do E-Beam | Envio: EXW

Chint Power Smart COMBOX - CHINT POWER

2005 RUDOLPH MP-300

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: MP 300

Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW

NEXTEST MAGNUM PV SCM

• Fabricante: SCM / SCMI

Tamanho do wafer: 8, 12" | Envio: EXW

NIKON AMI-3300

• Fabricante: Nikon
• Modelo: AMI-3300

Tamanho do wafer: 12" | Envio: EXW

2006 RUDOLPH MP-300

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: MP 300

Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW

2012 RUDOLPH MP3_300A

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: MP 300

Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW

RUDOLPH MP3_300XCU

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: MP 300

Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW

SECRON IP 300

• Fabricante: SECRON

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Prober | Envio: EXW`

2008 RUDOLPH MP1-300XCU

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: MP 300

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Medição da espessura do filme | Envio: EXW

2007 RUDOLPH MP300

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: MP 300

Tamanho do wafer: 8" | Processo: Medição da espessura do filme | Envio: EXW

1997 KLA AIT

• Fabricante: KLA-Tencor
• Modelo: AIT

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

LEICA INM300 Wafer Inspection

• Fabricante: Leica

2004 RUDOLPH AXI-S

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: AXI

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Inspeção de Macro | Envio: EXW