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Termina Dec 4th, 12:00 CST
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Usado Rudolph S3000 Metrologia / Inspeção (Semicondutores) in Coreia do Sul

  • 2012 RUDOLPH S3000A

    2012 RUDOLPH S3000A

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: S3000A

    Tamanho do wafer: 8" | Processo: Elipsometria a laser de feixe focalizado | Câmara: EXW

    Coreia do Sul
  • 2010 RUDOLPH S3000S

    2010 RUDOLPH S3000S

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: S3000S

    Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW

    Coreia do Sul
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