Equipamentos para semicondutores » Metrologia / Inspeção (semicondutores) » Rudolph » Coreia do Sul

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Usado Rudolph Metrologia / Inspeção (Semicondutores) in Coreia do Sul

  • 2012 RUDOLPH S3000A

    2012 RUDOLPH S3000A

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: S3000A

    Tamanho do wafer: 8" | Processo: Elipsometria a laser de feixe focalizado | Câmara: EXW

    Coreia do Sul
  • RUDOLPH FE-4D

    RUDOLPH FE-4D

    • Fabricante: Rudolph

    Tamanho do wafer: 8" | Processo: Elipsômetro de foco | Envio: EXW

    Coreia do Sul
  • RUDOLPH Meta Pulse

    RUDOLPH Meta Pulse

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: Metapulse

    Tamanho do wafer: 12" | Processo: Medição da espessura do filme | Envio: EXW

    Coreia do Sul
  • 2003 RUDOLPH Meta Pulse 300

    2003 RUDOLPH Meta Pulse 300

    • Fabricante: Rudolph

    Tamanho do wafer: 12" | Processo: Medição da espessura do filme

    Coreia do Sul
  • RUDOLPH Meta Pulse 3

    RUDOLPH Meta Pulse 3

    • Fabricante: Rudolph

    Tamanho do wafer: 12" | Processo: Medição da espessura do filme | Envio: EXW

    Coreia do Sul
  • RUDOLPH Meta Pulse 300

    RUDOLPH Meta Pulse 300

    • Fabricante: Rudolph

    Tamanho do wafer: 12" | Processo: MEDIÇÃO DA ESPESSURA DO METAL | Envio: EXW

    Coreia do Sul
  • RUDOLPH Meta Pulse 300

    RUDOLPH Meta Pulse 300

    • Fabricante: Rudolph

    Tamanho do wafer: 12" | Processo: Medição da espessura do filme | Envio: EXW

    Coreia do Sul
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