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Coreia do Sul
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2010 RUDOLPH S3000A
usado
- Fabricante: Rudolph
- Modelo: S3000A
Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW | Processo: Elipsometria a laser de feixe focalizado
Coreia do Sul
2010 RUDOLPH S3000A
usado
- Fabricante: Rudolph
- Modelo: S3000A
Tamanho do wafer: 12" | Processo: Elipsometria a laser de feixe focalizado | Envio: EXW
Coreia do Sul
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RUDOLPH Meta Pulse
usado
- Fabricante: Rudolph
- Modelo: Metapulse
Tamanho do wafer: 12" | Processo: Medição da espessura do filme | Envio: EXW
Coreia do Sul
2012 RUDOLPH S3000A
usado
- Fabricante: Rudolph
- Modelo: S3000A
Tamanho do wafer: 8" | Processo: Elipsometria a laser de feixe focalizado | Câmara: EXW
Coreia do Sul
2009 RUDOLPH MP300
usado
- Fabricante: Rudolph
- Modelo: MP 300
Tamanho do wafer: 8" | Processo: Medição da espessura do filme | Envio: EXW
Coreia do Sul
RUDOLPH FE-4D
usado
- Fabricante: Rudolph
Tamanho do wafer: 8" | Processo: Elipsômetro de foco | Envio: EXW
Coreia do Sul
RUDOLPH AXI-S
usado
- Fabricante: Rudolph
- Modelo: AXI
Tamanho do wafer: 12" | Processo: Inspeção de Macro | Envio: EXW
Coreia do Sul
2003 RUDOLPH Meta Pulse 300
usado
- Fabricante: Rudolph
Tamanho do wafer: 12" | Processo: Medição da espessura do filme
Coreia do Sul
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2006 RUDOLPH AXI_S
usado
- Fabricante: Rudolph
- Modelo: AXI
Tamanho do wafer: 12" | Processo: Sistema de Inspeção Macro | Envio: EXW`
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2005 RUDOLPH AXI_S
usado
- Fabricante: Rudolph
- Modelo: AXI
Tamanho do wafer: 12" | Processo: Sistema de Inspeção Macro | Envio: EXW`
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