Usado Metrologia / Inspeção (Semicondutores) in Coreia do Sul

KLA_TENCOR P-12

• usado

• Fabricante: KLA_TENCOR

Tamanho do wafer: 6",8" | Processo: PERFILADOR DE DISCO | Envio: EXW

2010 BRUKER JVX6200

• usado

• Fabricante: Bruker

Processo: Metrô | Envio: EXW

RUDOLPH FE-4D

• usado

• Fabricante: Rudolph

Tamanho do wafer: 8" | Processo: Elipsômetro de foco | Envio: EXW

2008 LASERTEC BGM 300

• usado

• Fabricante: Lasertec

Tamanho do wafer: 8" | Processo: SISTEMA DE ANÁLISE E VISUALIZAÇÃO DE SUPERFÍCIE DE WAFER | Envio: EXW

2003 RUDOLPH MP200

• usado

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: MP200

Tamanho do wafer: 8

2001 J.A.WOOLLAM VUV-VASE VU302(GENI)

• usado

• Fabricante: J.A.WOOLLAM

Tamanho do wafer: 8" | Processo: ELLIPSÔMETRO | Envio: EXW

JORDANVALLEY JVX6200

• usado

• Fabricante: JORDANVALLEY

Tamanho do wafer: 12"

2000 RUDOLPH MP200

• usado

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: MP200

1998 RODOLPH Meta Pulse 200

• usado

• Fabricante: RODOLPH

Tamanho do wafer: 8 | 3 tamanho do wafer: 8" | Envio: EXW

2003 RUDOLPH Meta Pulse 300

• usado

• Fabricante: Rudolph

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Medição da espessura do filme

KLA_TENCOR PROMETRIX FT750

• usado

• Fabricante: KLA_TENCOR

Processo: MEDIÇÃO DA ESPESSURA DO FILME | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

2006 NANOMETRICS CALIPER-ULTRA

• usado

• Fabricante: Nanometrics

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Sobreposição | Envio: EXW

RUDOLPH Meta Pulse 200

• usado

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MEDIÇÃO DA ESPESSURA DO FILME | Envio: EXW

JEOL JWS-7500E

• usado

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JWS-7500E

Tamanho do wafer: 8" | Processo: SISTEMA DE INSPEÇÃO DE WAFER | Envio: EXW

2013 ATI OAK-1

• usado

• Fabricante: ATI

Envio: EXW