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Lumentum - Surplus Semiconductor Fabrication Tools and Optical Communication Testers from Takao Japan Facility

por AllSurplus

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Usado Metrologia / Inspeção (Semicondutores) in Coreia do Sul

  • 2010 HITACHI LS9000

    2010 HITACHI LS9000

    • usado

    • Fabricante: Hitachi
    • Modelo: LS9000

    Envio: EXW

    Coreia do Sul
  • RUDOLPH WV320 MACRO

    RUDOLPH WV320 MACRO

    • usado

    • Fabricante: Rudolph

    Tamanho do wafer: 8" | Envio: EXW

    Coreia do Sul
  • 2003 HITACHI RS4000

    2003 HITACHI RS4000

    • usado

    • Fabricante: Hitachi
    • Modelo: RS 4000

    Tamanho do wafer: 12" | Processo: REVISÃO DE DEFEITOS SEM | Envio: EXW

    Coreia do Sul
  • HSEB AXIOTRON 300

    HSEB AXIOTRON 300

    • usado

    • Fabricante: HSEB

    Envio: EXW

    Coreia do Sul
  • 2010 HITACHI IS3200SE

    2010 HITACHI IS3200SE

    • usado

    • Fabricante: Hitachi
    • Modelo: IS3200SE

    Tamanho do wafer: 12" | Envio: EXW

    Coreia do Sul
  • 2010 Kobelco SBW-330

    2010 Kobelco SBW-330

    • usado

    • Fabricante: Kobelco
    • Modelo: SBW-330

    Detalhes: Teste e metrologia de wafer | Remessa: A embalagem e o envio são de responsabilidade do comprador | Comentários: SBW-330 Teste e metrologia de wafer

    Coreia do Sul
  • 2011 Jordan valley semiconductors JVX6200I

    2011 Jordan valley semiconductors JVX6200I

    • usado

    • Fabricante: Valley
    • Modelo: JVX6200I

    Tamanho do wafer: 12" | Processo: Metrologia de raios X (refletividade de raios X) | Envio: EXW

    Coreia do Sul
  • 1997 LG SEMICON CLS-9002

    1997 LG SEMICON CLS-9002

    • usado

    • Fabricante: LG SEMICON

    Processo: 3ª INSPEÇÃO ÓPTICA | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

    Coreia do Sul
  • 2005 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

    2005 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

    • usado

    • Fabricante: Nanometrics

    Tamanho do wafer: 12" | Processo: Inspeção de máscaras e wafer | Envio: EXW

    Coreia do Sul
  • 2006 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

    2006 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

    • usado

    • Fabricante: Nanometrics

    Tamanho do wafer: 12" | Processo: Inspeção de máscaras e wafer | Envio: EXW

    Coreia do Sul
  • JEOL JWS-7515

    JEOL JWS-7515

    • usado

    • Fabricante: Jeol
    • Modelo: JWS-7515

    Detalhes: Inseção de wafer | Remessa: A embalagem e o envio são de responsabilidade do comprador | Comentários: Inspeção de wafer JEOL JWS-7515

    Coreia do Sul
  • 2010 RUDOLPH WS3840

    2010 RUDOLPH WS3840

    • usado

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: WS3840

    Tamanho do wafer: 12" | Processo: Metrologia de colisões 3d | Envio: EXW`

    Coreia do Sul
  • JEOL JWS-7515

    JEOL JWS-7515

    • usado

    • Fabricante: Jeol
    • Modelo: JWS-7515

    Detalhes: Inspeção de wafer | Remessa: A embalagem e o envio são de responsabilidade do comprador | Comentários: Inspeção de wafer JEOL JWS-7515

    Coreia do Sul
  • 2006 HITACHI IS2700E

    2006 HITACHI IS2700E

    • usado

    • Fabricante: Hitachi
    • Modelo: IS2700SE

    Tamanho do wafer: 12" | Detalhes: Inspeção de feixe E | Remessa: A embalagem e o envio são de responsabilidade do comprador | Comentários: Inspeção do feixe E da HITACHI IS2700SE

    Coreia do Sul
  • 2005 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

    2005 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

    • usado

    • Fabricante: Nanometrics

    Tamanho do wafer: 12" | Processo: Inspeção de máscaras e wafer | Envio: EXW

    Coreia do Sul
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