Usado semicondutores

RUDOLPH S3000A

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: S3000A

Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW

ONTO WV320

• Fabricante: Onto

Tamanho do wafer: 12" | Envio: EXW

JEOL JWS-7515

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JWS-7515

Detalhes: Inspeção de wafer | Remessa: A embalagem e o envio são de responsabilidade do comprador | Comentários: Inspeção de wafer JEOL JWS-7515

2000 RUDOLPH MP200

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: MP200

2006 HITACHI IS2700E

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: IS2700SE

Tamanho do wafer: 12" | Detalhes: Inspeção de feixe E | Remessa: A embalagem e o envio são de responsabilidade do comprador | Comentários: Inspeção do feixe E da HITACHI IS2700SE

2010 RUDOLPH WS3840

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: WS3840

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Metrologia de colisões 3d | Envio: EXW`

1998 RODOLPH Meta Pulse 200

• Fabricante: RODOLPH

Tamanho do wafer: 8 | 3 tamanho do wafer: 8" | Envio: EXW

HITACHI S4700-II

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: S 4700

Tamanho do wafer: 12" | Processo: FESEM com Horriba EMAX EDX | Envio: EXW

PUDOLPH Meta Pluse3

• Fabricante: PUDOLPH

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Medição da espessura do filme | Envio: EXW

2005 NANOMETRICS CALIPER_ELAN

• Fabricante: Nanometrics

Tamanho do wafer: 12" | Processo: SOBREPOSIÇÃO | Envio: EXW

2003 HITACHI RS 4000

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: RS 4000

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Revisão de defeitos Sem | Envio: EXW

2005 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• Fabricante: Nanometrics

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Inspeção de máscaras e wafer | Envio: EXW

2003 RUDOLPH Meta Pulse 300

• Fabricante: Rudolph

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Medição da espessura do filme

1999 NEC NEC SL-473F

• Fabricante: NEC
• Modelo: SL-473F

Processo: MARCADOR DE WAFER SI | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

KLA_TENCOR PROMETRIX FT750

• Fabricante: KLA_TENCOR

Processo: MEDIÇÃO DA ESPESSURA DO FILME | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW