Usado semicondutores

METROLOGY Q230

• usado

• Fabricante: METROLOGY

Tamanho do wafer: 8"

METROLOGY P2

• usado

• Fabricante: METROLOGY

KLA_TENCOR CI T1X0

• usado

• Fabricante: KLA_TENCOR

Processo: CI T1X0 REV.2 | Envio: EXW

HITACHI FB 2100

• usado

• Fabricante: Hitachi

KLA P20H

• usado

• Fabricante: KLA-Tencor
• Modelo: P20H

Tamanho do wafer: 3

1996 BROOKS METARA 7200

• usado

• Fabricante: Brooks

Tamanho do wafer: 8" | Processo: SOBREPOSIÇÃO | Envio: EXW

1991 KLA SFS7200

• usado

• Fabricante: KLA-Tencor
• Modelo: SFS7200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: Metrologia | Envio: EXW

2013 ATI OAK-1

• usado

• Fabricante: ATI

Envio: EXW

2005 VISTEC LWM9000

• usado

• Fabricante: Vistec

Tamanho do wafer: 6" | Envio: EXW

2010 HITACHI IS3200SE

• usado

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: IS3200SE

Tamanho do wafer: 12" | Envio: EXW

2010 HITACHI LS9000

• usado

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: LS9000

Envio: EXW

NANOMETRICS CALPER-ULTRA

• usado

• Fabricante: Nanometrics

Tamanho do wafer: 12" | Envio: EXW

RUDOLPH S3000

• usado

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: S3000

Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW

2011 RUDOLPH S3000A

• usado

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: S3000A

Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW | Processo: Elipsometria a laser de feixe focalizado

2010 RUDOLPH S3000A

• usado

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: S3000A

Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW | Processo: Elipsometria a laser de feixe focalizado