Equipamentos para semicondutores » Metrologia / Inspeção (semicondutores) » Coreia do Sul

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Usado Metrologia / Inspeção (Semicondutores) in Coreia do Sul

  • RUDOLPH WV320 MACRO

    RUDOLPH WV320 MACRO

    • Fabricante: Rudolph

    Tamanho do wafer: 8" | Envio: EXW

    Coreia do Sul
  • 2006 HITACHI IS2700E

    2006 HITACHI IS2700E

    • Fabricante: Hitachi
    • Modelo: IS-2700SE

    Tamanho do wafer: 12" | Detalhes: Inspeção de feixe E | Remessa: A embalagem e o envio são de responsabilidade do comprador | Comentários: Inspeção do feixe E da HITACHI IS2700SE

    Coreia do Sul
  • KLA TENCOR P-15

    KLA TENCOR P-15

    • Fabricante: KLA-Tencor
    • Modelo: P-15

    Coreia do Sul
  • 2000 RUDOLPH MP200

    2000 RUDOLPH MP200

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: MP200

    Coreia do Sul
  • HSEB AXIOSPECT 300

    HSEB AXIOSPECT 300

    • Fabricante: HSEB
    • Modelo: AXIOSPECT 300

    Envio: EXW

    Coreia do Sul
  • 2008 RUDOLPH NSK 105

    2008 RUDOLPH NSK 105

    • Fabricante: Rudolph

    Envio: EXW

    Coreia do Sul
  • 2000 RUDOLPH METAPULSE200

    2000 RUDOLPH METAPULSE200

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: Metapulse 200

    Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

    Coreia do Sul
  • 2008 Rudolph Metapulse Metapulse II

    2008 Rudolph Metapulse Metapulse II 200X CU

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: Metapulse 200

    Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

    Coreia do Sul
  • 2001 Rudolph Metapulse 200X CU

    2001 Rudolph Metapulse 200X CU

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: Metapulse 200

    Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

    Coreia do Sul
  • 2005 Rudolph Metapulse 200

    2005 Rudolph Metapulse 200

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: Metapulse 200

    Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

    Coreia do Sul
  • 2014 Lasertec BGM300

    2014 Lasertec BGM300

    • Fabricante: Lasertec

    Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW

    Coreia do Sul
  • 2004 RUDOLPH METAPULSE200

    2004 RUDOLPH METAPULSE200

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: Metapulse 200

    Tamanho do wafer: 8" | Processo: max. output power | Envio: EXW

    Coreia do Sul
  • 2003 Rudolph Metapulse 200X cu

    2003 Rudolph Metapulse 200X cu

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: Metapulse 200

    Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

    Coreia do Sul
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Resumo

A metrologia de semicondutores envolve a medição e análise de wafers e dispositivos semicondutores. Esta categoria inclui ferramentas e equipamentos usados para garantir a precisão e exatidão dos processos de fabricação de semicondutores. Esses instrumentos são vitais para o controle de qualidade, ajudando a detectar defeitos e garantir que os dispositivos atendam aos rigorosos padrões da indústria.

PERGUNTAS FREQUENTES

Quais fatores devo considerar ao comprar equipamentos de metrologia de semicondutores?

Considere a precisão de medição, a resolução e a compatibilidade do equipamento com seus processos específicos de semicondutores. Avalie os serviços de suporte do fornecedor e a facilidade de integração do equipamento em seus sistemas existentes.

Como posso garantir o envio seguro de equipamentos de metrologia de semicondutores?

Utilize um serviço de transporte especializado com experiência em manuseio de equipamentos sensíveis e de alta precisão. Certifique-se de que o equipamento esteja bem embalado com amortecimento adequado e instruções de manuseio.

Qual é o cronograma de manutenção para equipamentos de metrologia de semicondutores?

A calibração e a inspeção regulares são essenciais. Siga as diretrizes do fabricante para manutenção preventiva, incluindo a limpeza de componentes ópticos e a verificação de atualizações de software. Mantenha um registro de todas as atividades de manutenção.