Usado Metrologia / Inspeção (Semicondutores) in Coreia do Sul

2002 MDC SIGNATION

• usado

• Fabricante: MDC

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

2000 KLA UV-1080

• usado

• Fabricante: KLA-Tencor

Tamanho do wafer: 6", 8" | Processo: MET | Envio: EXW

2009 HITACHI RS4000T

• usado

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: RS 4000

Tamanho do wafer: 12" | Envio: EXW

LASER&PHYSICS SISCAN-2-M7325

• usado

• Fabricante: LASER&PHYSICS

Processo: Máquina de teste de máscara | Tamanho do wafer: N / D | Envio: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• usado

• Fabricante: KLA_TENCOR

Processo: CI T1X0 REV.2 | Envio: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• usado

• Fabricante: KLA_TENCOR

Processo: CI T1X0 | Envio: EXW

METROLOGY Q230

• usado

• Fabricante: METROLOGY

Tamanho do wafer: 8"

METROLOGY P2

• usado

• Fabricante: METROLOGY

2008 RUDOLPH NSK 105

• usado

• Fabricante: Rudolph

Envio: EXW

2006 NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• usado

• Fabricante: Nanometrics

Tamanho do wafer: 12" | Envio: EXW

HSEB AXIOSPECT 300

• usado

• Fabricante: HSEB
• Modelo: AXIOSPECT 300

Envio: EXW

2001 Rudolph Metapulse 200X CU

• usado

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

2005 Rudolph Metapulse 200

• usado

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

2008 Rudolph Metapulse Metapulse II 200X CU

• usado

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

HITACHI FB 2100

• usado

• Fabricante: Hitachi