Usado Metrologia / Inspeção (Semicondutores) in Coreia do Sul

2000 KLA 2139

• Fabricante: KLA-Tencor
• Modelo: 2139

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

2002 MDC SIGNATION

• Fabricante: MDC

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

2000 KLA UV-1080

• Fabricante: KLA-Tencor

Tamanho do wafer: 6", 8" | Processo: MET | Envio: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• Fabricante: KLA_TENCOR

Processo: CI T1X0 | Envio: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• Fabricante: KLA_TENCOR

Processo: CI T1X0 REV.2 | Envio: EXW

METROLOGY Q230

• Fabricante: METROLOGY

Tamanho do wafer: 8"

AMAT SEMVision

• Fabricante: Amat
• Modelo: Semvision

Tamanho do wafer: 12" | Envio: EXW

2006 NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• Fabricante: Nanometrics

Tamanho do wafer: 12" | Envio: EXW

METROLOGY P2

• Fabricante: METROLOGY

HITACHI S 5000

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: S-5000

HITACHI S 5000

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: S-5000

KLA-TENCOR P 12

• Fabricante: KLA-Tencor
• Modelo: P-12

HITACHI S 5000

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: S-5000

HITACHI S 5000

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: S-5000

HITACHI S 5000

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: S-5000