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Usado Inspeção De Defeitos in Coreia do Sul

  • 2001 HITACHI S4700-I

    2001 HITACHI S4700-I

    • Fabricante: Hitachi
    • Modelo: S-4700

    Tamanho do wafer: 12" | Processo: Microscópio eletrônico de varredura | Envio: EXW

    Coreia do Sul
  • 1996 HITACHI S-4160

    1996 HITACHI S-4160

    • Fabricante: Hitachi
    • Modelo: S-4160

    Tamanho do wafer: 6",8" | Processo: FE SEM | Envio: EXW

    Coreia do Sul
  • 2006 HITACHI IS2700E

    2006 HITACHI IS2700E

    • Fabricante: Hitachi
    • Modelo: IS-2700SE

    Tamanho do wafer: 12" | Detalhes: Inspeção de feixe E | Remessa: A embalagem e o envio são de responsabilidade do comprador | Comentários: Inspeção do feixe E da HITACHI IS2700SE

    Coreia do Sul
  • Hitachi S4700II

    Hitachi S4700II

    • Fabricante: Hitachi
    • Modelo: S-4700

    Tamanho do wafer: 12" | Envio: EXW

    Coreia do Sul
  • HITACHI S4700-II

    HITACHI S4700-II

    • Fabricante: Hitachi
    • Modelo: S-4700

    Tamanho do wafer: 12" | Processo: FESEM com Horriba EMAX EDX | Envio: EXW

    Coreia do Sul
  • 2003 HITACHI RS 4000

    2003 HITACHI RS 4000

    • Fabricante: Hitachi
    • Modelo: RS-4000

    Tamanho do wafer: 12" | Processo: Revisão de defeitos Sem | Envio: EXW

    Coreia do Sul
  • 2003 HITACHI RS4000

    2003 HITACHI RS4000

    • Fabricante: Hitachi
    • Modelo: RS-4000

    Tamanho do wafer: 12" | Processo: Revisão de defeitos Sem | Envio: EXW

    Coreia do Sul
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Resumo

A inspeção de defeitos em metrologia de semicondutores engloba sistemas e processos para detectar, classificar e quantificar defeitos em wafers, máscaras e dispositivos embalados. Ferramentas ópticas, por feixe de elétrons ou baseadas em espalhamento medem tamanho, densidade e localização dos defeitos para melhorar o rendimento e a análise de causa raiz. Os equipamentos devem atender a requisitos de sala limpa, vibração e ESD e costumam integrar imagem avançada e análise de dados.

PERGUNTAS FREQUENTES

O que verificar ao comprar um sistema de inspeção de defeitos usado?

Verifique o estado dos detectores e das ópticas, especificações de resolução e sensibilidade, tamanhos de wafer compatíveis, versões de software/firmware, histórico de manutenção e calibração, e disponibilidade de peças e suporte.

Como deve ser o transporte do equipamento para protegê‑lo?

Use transporte com controle climático e amortecimento de vibração, embalagem personalizada, proteção ESD e registradores de impacto. Coordene desmontagem e remontagem com o fornecedor ou equipe certificada e assegure o frete.

Quais rotinas de manutenção e calibração são necessárias?

Realize verificações diárias de óptica e limpeza, monitore bombas/vácuo quando aplicável e faça backups regulares de software. Agende calibração anual com OEM ou laboratório qualificado e troque consumíveis conforme o fabricante.