Usado Metrologia / Inspeção (Semicondutores)

2002 MDC SIGNATION

• usado

• Fabricante: MDC

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

2000 KLA UV-1080

• usado

• Fabricante: KLA-Tencor

Tamanho do wafer: 6", 8" | Processo: MET | Envio: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• usado

• Fabricante: KLA_TENCOR

Processo: CI T1X0 REV.2 | Envio: EXW

2000 RUDOLPH METAPULSE200

• usado

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• usado

• Fabricante: KLA_TENCOR

Processo: CI T1X0 | Envio: EXW

2004 RUDOLPH METAPULSE200

• usado

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

METROLOGY Q230

• usado

• Fabricante: METROLOGY

Tamanho do wafer: 8"

METROLOGY P2

• usado

• Fabricante: METROLOGY

HSEB AXIOSPECT 300

• usado

• Fabricante: HSEB
• Modelo: AXIOSPECT 300

Envio: EXW

2008 RUDOLPH NSK 105

• usado

• Fabricante: Rudolph

Envio: EXW

2006 NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• usado

• Fabricante: Nanometrics

Tamanho do wafer: 12" | Envio: EXW

HITACHI FB 2100

• usado

• Fabricante: Hitachi

KLA P20H

• usado

• Fabricante: KLA-Tencor
• Modelo: P20H

Tamanho do wafer: 3

2014 Lasertec BGM300

• usado

• Fabricante: Lasertec

Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW

AMAT SEMVision

• usado

• Fabricante: Amat
• Modelo: Semvision

Tamanho do wafer: 12" | Envio: EXW