Usado Metrologia / Inspeção (Semicondutores) in Coreia do Sul

FEI FEM2010F

• usado

• Fabricante: FEI
• Modelo: FEM2010F

Detalhes: Feixe duplo | Remessa: A embalagem e o envio são de responsabilidade do comprador | Comentários: FEI FEM2010F Feixe duplo

2003 NANOMETRICS CALIPER_MOSAIC

• usado

• Fabricante: Nanometrics
• Modelo: CALIPERMOSAIC

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Sobreposição | Envio: EXW`

2013 RODOLPH Meta Pulse 300

• usado

• Fabricante: RODOLPH

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Medição da espessura do filme | Envio: EXW`

RODOLPH Meta Pulse 300

• usado

• Fabricante: RODOLPH

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Medição da espessura do filme | Envio: EXW`

J.A Woollam VUV-VASE

• usado

• Fabricante: J.A Woollam

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Elipsômetro | Envio: EXW`

2001 HITACHI S4700-I

• usado

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: S 4700

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Microscópio eletrônico de varredura | Envio: EXW

RUDOLPH S3000A

• usado

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: S3000A

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Elipsometria a laser de feixe focalizado | Envio: EXW

LINDA IN5-HI

• usado

• Fabricante: LINDA

Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

RUDOLPH FE-3

• usado

• Fabricante: Rudolph

Tamanho do wafer: 8" | Processo: Elipsômetro de foco | Envio: EXW

2008 RAYTEX RXW-800

• usado

• Fabricante: RAYTEX

Tamanho do wafer: 8" | Processo: VARREDURA DE BORDA | Envio: EXW

2000 RUDOLPH MP200

• usado

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: MP200

1998 RODOLPH Meta Pulse 200

• usado

• Fabricante: RODOLPH

Tamanho do wafer: 8 | 3 tamanho do wafer: 8" | Envio: EXW

2003 RUDOLPH Meta Pulse 300

• usado

• Fabricante: Rudolph

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Medição da espessura do filme

KLA_TENCOR PROMETRIX FT750

• usado

• Fabricante: KLA_TENCOR

Processo: MEDIÇÃO DA ESPESSURA DO FILME | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

2006 NANOMETRICS CALIPER-ULTRA

• usado

• Fabricante: Nanometrics

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Sobreposição | Envio: EXW