Usado Metrologia / Inspeção (Semicondutores) in Gyeonggi, Coreia do Sul

KLA TENCOR, P-15, Surface Profiler (Windows NT)

• Fabricante: KLA-Tencor
• Modelo: P-15

Número de série.: 0704120887 | Quantidade: 1 | Detalhes do equipamento: Surface Profiler (Windows NT) | Equipamentos: Perfilador de superfície | Descrição: Windows NT

KLA_TENCOR CI T1X0

• Fabricante: KLA_TENCOR

Processo: CI T1X0 REV.2 | Envio: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• Fabricante: KLA_TENCOR

Processo: CI T1X0 | Envio: EXW

METROLOGY Q230

• Fabricante: METROLOGY

Tamanho do wafer: 8"

2006 NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• Fabricante: Nanometrics

Tamanho do wafer: 12" | Envio: EXW

METROLOGY P2

• Fabricante: METROLOGY

AMAT SEMVision

• Fabricante: Amat
• Modelo: Semvision

Tamanho do wafer: 12" | Envio: EXW

HITACHI FB 2100

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: FB-2100

KLA P20H

• Fabricante: KLA-Tencor
• Modelo: P20H

Tamanho do wafer: 3

KLA-TENCOR P 12

• Fabricante: KLA-Tencor
• Modelo: P-12