Coreia do Sul
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2010 RUDOLPH S3000A
usado
- Fabricante: Rudolph
- Modelo: S3000A
Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW | Processo: Elipsometria a laser de feixe focalizado
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2010 Torya SP-500W
usado
- Fabricante: Toray
- Modelo: SP-500W
Tamanho do wafer: 12" | Toray sp-500w s/n: A103141741 | Detalhes: Medição da altura do ressalto | Condição: no estado em que se encontra | Remessa: A embalagem e o envio são de responsabilidade do comprador | Com...
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Cyber optics Cyberscan C212/110
usado
- Fabricante: Cyber optics
Detalhes: Medição a laser | Remessa: A embalagem e o envio são de responsabilidade do comprador. | Comentários: Medição a laser Cyberscan C212/110
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2006 EO technology For glass panel
usado
- Fabricante: EO technology
Detalhes: Marcador a laser para vidro | Remessa: A embalagem e o envio são de responsabilidade do comprador | Comentários: EO tech Para painel de vidro, marcador a laser para vidro
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NGR NGR2150
usado
- Fabricante: NGR
Tamanho do wafer: 12" | Detalhes: CD SEM | Remessa: A embalagem e o envio são de responsabilidade do comprador | Comentários: NGR2150 CD SEM
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2001 NANOMETRICS CALIPER_MOSAIC
usado
- Fabricante: Nanometrics
- Modelo: CALIPERMOSAIC
Tamanho do wafer: 12" | Processo: Sobreposição | Envio: EXW`
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2010 NANOMETRICS CALIPER_MOSAIC
usado
- Fabricante: Nanometrics
- Modelo: CALIPERMOSAIC
Tamanho do wafer: 12" | Processo: Sobreposição | Envio: EXW`
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2012 RUDOLPH S3000A
usado
- Fabricante: Rudolph
- Modelo: S3000A
Tamanho do wafer: 8" | Processo: Elipsometria a laser de feixe focalizado | Câmara: EXW
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KLA_TENCOR P-12
usado
- Fabricante: KLA_TENCOR
Tamanho do wafer: 6",8" | Processo: PERFILADOR DE DISCO | Envio: EXW
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RUDOLPH FE-4D
usado
- Fabricante: Rudolph
Tamanho do wafer: 8" | Processo: Elipsômetro de foco | Envio: EXW
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Dica: informe o fabricante, modelo ou palavra-chave