Usado Metrologia / Inspeção (Semicondutores) in Coreia do Sul

RUDOLPH FE-4D

• Fabricante: Rudolph

Tamanho do wafer: 8" | Processo: Elipsômetro de foco | Envio: EXW

2008 LASERTEC BGM 300

• Fabricante: Lasertec

Tamanho do wafer: 8" | Processo: SISTEMA DE ANÁLISE E VISUALIZAÇÃO DE SUPERFÍCIE DE WAFER | Envio: EXW

2003 RUDOLPH MP200

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: MP200

Tamanho do wafer: 8

2001 J.A.WOOLLAM VUV-VASE VU302(GENI)

• Fabricante: J.A.WOOLLAM

Tamanho do wafer: 8" | Processo: ELLIPSÔMETRO | Envio: EXW

2005 RUDOLPH MP200

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: MP200

RUDOLPH Meta Pulse 3

• Fabricante: Rudolph

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Medição da espessura do filme | Envio: EXW

RUDOLPH Meta Pulse 300

• Fabricante: Rudolph

Tamanho do wafer: 12" | Processo: MEDIÇÃO DA ESPESSURA DO METAL | Envio: EXW

KLA_TENCOR PROMETRIX FT750

• Fabricante: KLA_TENCOR

Processo: MEDIÇÃO DA ESPESSURA DO FILME | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

2010 RUDOLPH WS3840

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: WS3840

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Metrologia de colisões 3d | Envio: EXW`

JEOL JWS-7515

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JWS-7515

Detalhes: Inspeção de wafer | Remessa: A embalagem e o envio são de responsabilidade do comprador | Comentários: Inspeção de wafer JEOL JWS-7515

2006 HITACHI IS2700E

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: IS2700SE

Tamanho do wafer: 12" | Detalhes: Inspeção de feixe E | Remessa: A embalagem e o envio são de responsabilidade do comprador | Comentários: Inspeção do feixe E da HITACHI IS2700SE

2005 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• Fabricante: Nanometrics

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Inspeção de máscaras e wafer | Envio: EXW

2006 Micro-Vu Vertex 420

• Fabricante: Micro-Vu

Tamanho do wafer: N / D | Envio: EXW

CAMECA EX300

• Fabricante: Cameca

Tamanho do wafer: 12" | Envio: EXW

Hitachi S4700II

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: S 4700

Tamanho do wafer: 12" | Envio: EXW