Usado etc in Coreia do Sul

AGILENT HP-4142B

• usado

• Fabricante: Agilent - Keysight
• Modelo: 4142B

AGILENT HP-4142B

• usado

• Fabricante: Agilent - Keysight
• Modelo: 4142B

BLUE M electric DCC-1406E-2S

• usado

• Fabricante: Lindberg/Blue M
• Modelo: DCC-1406

Tamanho da saída: 1600*1900*1100 mm | Tamanho da entrada: 1100*900*600 mm | Faixa de temperatura: 15~250 ℃ | Tensão: 208V/3PH/60HZ | Localizado: Armazém B-2 da Etechsolution

BLUE M electric DCC-1406-E-4S-CE

• usado

• Fabricante: Lindberg/Blue M
• Modelo: DCC-1406

Tamanho da saída: 1600*1900*1100 mm | Tamanho da entrada: 1100*900*600 mm | Faixa de temperatura: 15~250 ℃ | Tensão: 208V/3PH/60HZ | Localizado: Armazém B-2 da Etechsolution

2008 Espec SCO-122B-L

• usado

• Fabricante: Espec
• Modelo: SCO-122B-L

Tamanho da saída: 1400*2200*2000 mm | Tamanho da entrada: 800*780*700 mm | Faixa de temperatura: 50~500 ℃ | Tensão: 200V, 3PH, 50/60HZ | Localizado: Armazém B-2 da Etechsolution

2003 CHARM ENG CVO-1200

• usado

• Fabricante: CHARM ENG

Tamanho da saída: 1900*1760*1370 mm | Tensão: 208V/21KVA/50-60HZ | Localizado: Armazém da Etechsolution B-4

2005 TEL ALPHA 303I

• usado

• Fabricante: Tokyo Electron - TEL
• Modelo: Alpha-303i

Tamanho do wafer: 12" | Processo: ETCH | Envio: EXW

2000 DNS SS-W80AR

• usado

• Fabricante: Dainippon Screen
• Modelo: SS-80

Tamanho do wafer: 8" | Envio: EXW

1996 NICOLET MAGNA 410 FT-IR

• usado

• Fabricante: Nicolet
• Modelo: MAGNA 410 FT-IR

Processo: Espectrômetro | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

MARTEQ VERTEQ SUPERCLEAN 1600

• usado

• Fabricante: Verteq
• Modelo: SUPERCLEAN 1600

Processo: SECADOR COM ENXÁGUE GIRATÓRIO | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

CARLZEISS AXIOTON

• usado

• Fabricante: CARLZEISS

Processo: MICROSCÓPIO DE INSPEÇÃO | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

• usado

• Fabricante: Leica

Processo: Microscópio de inspeção de wafer | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

LEICA AG KENSINGTON 300901

• usado

• Fabricante: Leica
• Modelo: KENSINGTON 300901

Processo: Microscópio de inspeção de wafer | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

LEICA AG KENSINGTON 300901

• usado

• Fabricante: Leica
• Modelo: KENSINGTON 300901

Processo: Microscópio de inspeção de wafer | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

APPILED MATERIALS JEOL JWS-7500E

• usado

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JWS-7500E

Tamanho do wafer: 8" | Processo: Sistema de inspeção de wafer | Envio: EXW