Usado etc in Coreia do Sul

2011 AXCELIS INTEGRA

• Fabricante: Axcelis
• Modelo: Integra

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Sistema de tira seca a plasma ES | Envio: EXW`

1992 DISCO DFG-82IF

• Fabricante: Disco
• Modelo: DFG-82IF8

Processo: Esmerilhadeira de superfície rotativa

MPD MSP-2300XPI

• Fabricante: MPD

Tamanho do wafer: 12" | Detalhes: Deposição de wafer | Remessa: EXW

2005 TEL ALPHA 303I

• Fabricante: Tokyo Electron - TEL
• Modelo: Alpha-303i

Tamanho do wafer: 12" | Processo: ETCH | Envio: EXW

2000 DNS SS-W80AR

• Fabricante: Dainippon Screen
• Modelo: SS-80

Tamanho do wafer: 8" | Envio: EXW

1996 NICOLET MAGNA 410 FT-IR

• Fabricante: Nicolet
• Modelo: MAGNA 410 FT-IR

Processo: Espectrômetro | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

MARTEQ VERTEQ SUPERCLEAN 1600

• Fabricante: Verteq
• Modelo: SUPERCLEAN 1600

Processo: SECADOR COM ENXÁGUE GIRATÓRIO | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

CARLZEISS AXIOTON

• Fabricante: CARLZEISS

Processo: MICROSCÓPIO DE INSPEÇÃO | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

• Fabricante: Leica

Processo: Microscópio de inspeção de wafer | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

LEICA AG KENSINGTON 300901

• Fabricante: Leica
• Modelo: KENSINGTON 300901

Processo: Microscópio de inspeção de wafer | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

LEICA AG KENSINGTON 300901

• Fabricante: Leica
• Modelo: KENSINGTON 300901

Processo: Microscópio de inspeção de wafer | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

APPILED MATERIALS JEOL JWS-7500E

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JWS-7500E

Tamanho do wafer: 8" | Processo: Sistema de inspeção de wafer | Envio: EXW

CARLZEISS AXIOTON

• Fabricante: CARLZEISS

Processo: MICROSCÓPIO DE INSPEÇÃO | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

EXPEDIUS

Tamanho do wafer: 12" | Processo: DUMMY CLN | Envio: EXW

NIDEC IM 15

• Fabricante: Nidec-Shimpo

Processo: Inspeção de wafer | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW