Usado Equipamentos De Suporte (Semicondutores) in Coreia do Sul

2010 TEL INDY PLS

• Fabricante: Tokyo Electron - TEL

Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW

PROBER MP2000

• Fabricante: PROBER

VERTEQ SUPERCLEAN 1600

• Fabricante: Verteq
• Modelo: SUPERCLEAN 1600

2005 AXCELIS ES3

• Fabricante: Axcelis
• Modelo: ES3

Tamanho do wafer: 12"

MPD MSP-2300XPI

• Fabricante: MPD

Tamanho do wafer: 12" | Detalhes: Deposição de wafer | Remessa: EXW

1992 DISCO DFG-82IF

• Fabricante: Disco
• Modelo: DFG-82IF8

Processo: Esmerilhadeira de superfície rotativa

HP 4145B

• Fabricante: HP
• Modelo: 4145B

Processo: PARÂMETRO DO SEMICONDUTOR | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

TEL 303I

• Fabricante: Tokyo Electron - TEL
• Modelo: 303I

Tamanho do wafer: 12" | Envio: EXW

TEL INDY PLS

• Fabricante: Tokyo Electron - TEL

Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW

1998 NICOLET MAGNA 560 FT-IR

• Fabricante: Nicolet
• Modelo: MAGNA 560 FT-IR

Envio: EXW

SEMITOOL WST305M

• Fabricante: Semitool
• Modelo: WST305M

Processo: Cu PLTNG | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

• Fabricante: Leica

Processo: Microscópio de inspeção de wafer | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

• Fabricante: Leica

Processo: Microscópio de inspeção de wafer | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

LEICA AG KENSINGTON 300901

• Fabricante: Leica
• Modelo: KENSINGTON 300901

Processo: Microscópio de inspeção de wafer | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

LEICA AG KENSINGTON 300901

• Fabricante: Leica
• Modelo: KENSINGTON 300901

Processo: Microscópio de inspeção de wafer | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW