Usado in Coreia do Sul

NYC, NYC-0704, Testador de névoa salina
- Fabricante: NYC
Número de série.: CNY07043 | Quantidade: 1 | Detalhes do equipamento: Testador de névoa salina | Equipamentos: Testador de névoa salina | Descrição: N / D
Suwon, Coreia do Sul
2008 PSS, Accusizer780FX, Contador de partículas
- Fabricante: PSS
Número de série.: 0802X759A | Quantidade: 1 | Detalhes do equipamento: Contador de partículas (입자 먼지 측정기) | Equipamentos: Contador de partículas (입자 먼지 측정기) | Descrição: 2,4 V CC
Suwon, Coreia do Sul
HEESUNG ELECTRONIC, TD-0004, Testador de impacto de queda de bola
- Fabricante: HEESUNG ELECTRONIC
Número de série.: N / D | Quantidade: 1 | Detalhes do equipamento: Testador de impacto de queda de bola | Equipamentos: Testador de impacto de queda de bola | Descrição: N / D
Suwon, Coreia do Sul
2017 PIMACS, Neooptical5600, Sistema de medição de responsividade espectral
- Fabricante: PIMACS
Número de série.: NOK170001 | Quantidade: 1 | Detalhes do equipamento: Sistema de medição de responsividade espectral | Equipamentos: Sistema de medição de responsividade espectral | Descrição: AC220V, 50/60Hz
Suwon, Coreia do Sul
2015 COXEM, SPT-20, revestidor de íons
- Fabricante: COXEM
Número de série.: COXIC2-15062 | Quantidade: 1 | Detalhes do equipamento: Revestimento de íons | Equipamentos: Revestimento de íons | Descrição: N / D
Suwon, Coreia do Sul
2018 ASM, MS90, Sistema de classificação de mapas
- Fabricante: ASM
Número de série.: MS90-04001-0021 | Quantidade: 1 | Detalhes do equipamento: Sistema de classificação de mapas | Equipamentos: Sistema de classificação de mapas | Descrição: Lotação do wafer ±3°, tamanho do wafer...
Suwon, Coreia do Sul
2003 KLA, SP3, CONTADOR DE PARTÍCULAS
- Fabricante: KLA-Tencor
- Modelo: SP3
Número de série.: 45120310476 | Quantidade: 1 | Detalhes do equipamento: CONTADOR DE PARTÍCULAS | Equipamentos: CONTADOR DE PARTÍCULAS | Descrição: Wafer 450 mm
Suwon, Coreia do Sul
2016 QMC, LCS-400, Classificador de chips de LED
- Fabricante: QMC
Número de série.: Q28107A6 | Quantidade: 1 | Detalhes do equipamento: Classificador de chips de LED | Equipamentos: Classificador de chips de LED | Descrição: Tamanho da matriz 500x500~2000x2000㎛, tempo de tato 1...
Suwon, Coreia do Sul
2006 ADE, Ultrascan9300, Classificador de wafer
- Fabricante: ADE
Número de série.: N / D | Quantidade: 1 | Detalhes do equipamento: Classificador de wafer | Descrição: Wafer de 200 mm
Suwon, Coreia do Sul
2006 Wacco, SHC300-III, Compilador de expedição
- Fabricante: Wacco
Número de série.: N / D | Quantidade: 1 | Detalhes do equipamento: Compilador de remessas | Equipamentos: Compilador de remessas | Descrição: Wafer de 300 mm
Suwon, Coreia do Sul
2014 SESHIN Tech, G450C, ASC-LEC
- Fabricante: SESHIN Tech
Número de série.: N / D | Quantidade: 1 | Detalhes do equipamento: ASC-LEC (Limpeza automática de superfície - CVD de baixa energia) | Descrição: Wafer 450 mm
Suwon, Coreia do Sul
2003 Solid State Measurement INC, SSM5100, Sistema CV de sonda de mercúrio
- Fabricante: Solid State Measurement INC
Número de série.: 130 | Quantidade: 1 | Detalhes do equipamento: Sistema CV Mercury Probe | Equipamentos: Sistema CV Mercury Probe | Descrição: Wafer 8", Hgc02
Suwon, Coreia do Sul
1999 PLASMOS, SD2002, ELIPSÔMETRO
- Fabricante: Plasmos
Número de série.: 5094.06.94 | Quantidade: 1 | Detalhes do equipamento: ELLIPSÔMETRO | Equipamentos: ELLIPSÔMETRO | Descrição: Wafer de 300 mm | Monitor de vídeo: 9M200A | Eletrofísica: Sistema de foco automático...
Suwon, Coreia do Sul
2013 LG PRI, TWI-450-3S, Transferência de wafer
- Fabricante: LG PRI
Quantidade: 1 | Detalhes do equipamento: Transferência de wafer | Equipamentos: Transferência de wafer | Descrição: Wafer 450 mm
Suwon, Coreia do Sul
2013 LG PRI, TWP450, leitor de marcas a laser
- Fabricante: LG PRI
Número de série.: S1303A0077 | Quantidade: 1 | Detalhes do equipamento: Leitor de marcas a laser | Equipamentos: Leitor de marcas a laser | Descrição: Wafer 450 mm
Suwon, Coreia do Sul