Usado Medição Por Coordenadas (Mmc)

Máquina de medição por coordenadas

• usado

ZEISS UMC 850 ET PMC 850

• usado

• Fabricante: Zeiss
• Modelo: UMC 850

Cognex Corporation 821-0034-1R Rev B #6529

• usado

• Fabricante: Cognex

Comprimento: 910 mm | Largura: 700 mm | Altura: 2100 mm | Peso: 155 kg | Tensão: 230V | Freqüência: 50Hz | Faixa de fixação da peça de trabalho: 0-230 mm

MITUTOYO QM-M353 com painel QM-DATA

• usado

• Fabricante: Mitutoyo
• Modelo: QM

Curso do eixo x: 300 mm | Curso do eixo y: 500 mm | Curso do eixo z: 300 mm | Sistema leitura e de medição: Painel QM-DATA

Interfag Soluções para Metrologia

• novo

• Fabricante: Heidenhain

Interfag M1 / M2 / M3

• novo

• Fabricante: Interfag comercio de equipamentos INDL

Display with 1 input for air gage (compatible with all brands of air gage): 11040 | Optionnal module mb-tp (temperature compensation) for m3 only, including connection cable: X | Optionnal module mb-rl for m1 and...

2008 Mitsutoyo QVT1-X606P1L-C Instrumento de medição de imagem

• usado

• Fabricante: Mitutoyo

2011 NIKON, VMR-3020, Microscópio de medição

• usado

• Fabricante: Nikon
• Modelo: Nexiv VMR-3020

Número de série.: 1303969 | Quantidade: 1 | Detalhes do equipamento: Microscópio de medição | Equipamentos: Microscópio de medição | Descrição: Curso 300x200x150mm, leitura mínima de 0,1㎛

Mitutoyo, QV-X302P1L-C, Sistema de medição por visão

• usado

• Fabricante: Mitutoyo
• Modelo: QV-X302P1L-C

Número de série.: 000150704 | Quantidade: 1 | Detalhes do equipamento: Sistema de medição visual | Equipamentos: Sistema de medição visual | Descrição: N / D

NIKON VMZ-R3020

• usado

• Fabricante: Nikon
• Modelo: Nexiv VMZ-R 3020

Tamanho do wafer: 8" 12" | Processo: MET | Envio: EXW

2009 TRIDIMENSIONAL ZEISS CONTURA G2

• usado

• Fabricante: Zeiss
• Modelo: Contura