Equipamentos para semicondutores » Equipamentos de suporte (semicondutores)

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Usado Equipamentos De Suporte (Semicondutores)

2010 TEL INDY PLS
- Fabricante: Tokyo Electron - TEL
Tamanho da bolacha: 12 | Envio: EXW
Gyeonggi, Coreia do Sul
PROBER MP2000
- Fabricante: PROBER
Gyeonggi, Coreia do Sul
VERTEQ SUPERCLEAN 1600
- Fabricante: Verteq
- Modelo: SUPERCLEAN 1600
Gyeonggi, Coreia do Sul
2005 AXCELIS ES3
- Fabricante: Axcelis
- Modelo: ES3
Tamanho da bolacha: 12"
Gyeonggi, Coreia do Sul
MPD MSP-2300XPI
- Fabricante: MPD
Tamanho da bolacha: 12" | Detalhes: Deposição de Wafer | Envio: EXW
Anseong, Coreia do Sul
1992 DISCO DFG-82IF
- Fabricante: Disco
- Modelo: DFG-82IF8
Processar: Lixadeira de superfície rotativa
Anseong, Coreia do Sul
HP 4145B
- Fabricante: HP
- Modelo: 4145B
Processar: PARÂMETRO DO SEMICONDUTOR | Tamanho da bolacha: * | Envio: EXW
Coreia do Sul
TEL 303I
- Fabricante: Tokyo Electron - TEL
- Modelo: 303I
Tamanho da bolacha: 12" | Envio: EXW
Coreia do Sul
TEL INDY PLS
- Fabricante: Tokyo Electron - TEL
Tamanho da bolacha: 12 | Envio: EXW
Coreia do Sul
1998 NICOLET MAGNA 560 FT-IR
- Fabricante: Nicolet
- Modelo: MAGNA 560 FT-IR
Envio: EXW
Coreia do Sul
SEMITOOL WST305M
- Fabricante: Semitool
- Modelo: WST305M
Processar: Cu PLTNG | Tamanho da bolacha: * | Envio: EXW
Coreia do Sul
LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
- Fabricante: Leica
Processar: Microscópio de Inspeção de Wafer | Tamanho da bolacha: * | Envio: EXW
Coreia do Sul
LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
- Fabricante: Leica
Processar: Microscópio de Inspeção de Wafer | Tamanho da bolacha: * | Envio: EXW
Coreia do Sul
LEICA AG KENSINGTON 300901
- Fabricante: Leica
- Modelo: KENSINGTON 300901
Processar: Microscópio de Inspeção de Wafer | Tamanho da bolacha: * | Envio: EXW
Coreia do Sul
LEICA AG KENSINGTON 300901
- Fabricante: Leica
- Modelo: KENSINGTON 300901
Processar: Microscópio de Inspeção de Wafer | Tamanho da bolacha: * | Envio: EXW
Coreia do Sul

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