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Coreia do Sul
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2007 RUDOLPH RUDOLPH MP1-300
- Fabricante: Rudolph
- Modelo: MP 300
Tamanho do wafer: 12" | Processo: Medição da espessura do filme | Envio: EXW
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2004 RUDOLPH AXI_S
- Fabricante: Rudolph
- Modelo: AXI
Tamanho do wafer: 12" | Processo: Sistema de Inspeção Macro | Envio: EXW
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2009 RUDOLPH MP300
- Fabricante: Rudolph
- Modelo: MP 300
Tamanho do wafer: 8" | Processo: Medição da espessura do filme | Envio: EXW
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RUDOLPH AXI935D
- Fabricante: Rudolph
- Modelo: AXI 935
Tamanho do wafer: 12" | Processo: AVI | Envio: EXW`
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RUDOLPH AXI-S
- Fabricante: Rudolph
- Modelo: AXI
Tamanho do wafer: 12" | Processo: Inspeção de Macro | Envio: EXW
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2003 RUDOLPH AXI_S
- Fabricante: Rudolph
- Modelo: AXI
Tamanho do wafer: 12" | Processo: Inspeção de defeitos | Envio: EXW`
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LASER&PHYSICS SISCAN-2-M7325
- Fabricante: LASER&PHYSICS
Processo: Máquina de teste de máscara | Tamanho do wafer: N / D | Envio: EXW
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2010 Kobelco SBW-330
- Fabricante: Kobelco
- Modelo: SBW-330
Detalhes: Teste e metrologia de wafer | Remessa: A embalagem e o envio são de responsabilidade do comprador | Comentários: SBW-330 Teste e metrologia de wafer
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JEOL JSM-6700F
- Fabricante: Jeol
- Modelo: JSM
Detalhes: FE SEM | Remessa: A embalagem e o envio são de responsabilidade do comprador | Comentários: JEOL JSM-6700F FE SEM
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1999 JEOL JSM-5600
- Fabricante: Jeol
- Modelo: JSM
Details: CD SEM | Remessa: Packing and shipping is buyer's responsibility | Comentários: JEOL JSM-5600 CD SEM
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