Usado tester in Busan, Coreia do Sul

1997 KLA AIT

• Fabricante: KLA-Tencor
• Modelo: AIT

Tamanho do wafer: 8" | Processo: MET | Envio: EXW

LEICA INM300 Wafer Inspection

• Fabricante: Leica

2004 RUDOLPH AXI-S

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: AXI

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Inspeção de Macro | Envio: EXW

NIKON AMI-3500

• Fabricante: Nikon
• Modelo: AMI-3500

Tamanho do wafer: 12" | Envio: EXW

2008 RUDOLPH MP-300XCU

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: MP 300

Envio: EXW

2001 RUDOLPH MP-300

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: MP 300

Tamanho do wafer: 12 | Envio: EXW

2007 RUDOLPH RUDOLPH MP1-300

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: MP 300

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Medição da espessura do filme | Envio: EXW

2004 RUDOLPH AXI_S

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: AXI

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Sistema de Inspeção Macro | Envio: EXW

2009 RUDOLPH MP300

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: MP 300

Tamanho do wafer: 8" | Processo: Medição da espessura do filme | Envio: EXW

RUDOLPH AXI935D

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: AXI 935

Tamanho do wafer: 12" | Processo: AVI | Envio: EXW`

RUDOLPH AXI-S

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: AXI

Tamanho do wafer: 12" | Processo: Inspeção de Macro | Envio: EXW

LASER&PHYSICS SISCAN-2-M7325

• Fabricante: LASER&PHYSICS

Processo: Máquina de teste de máscara | Tamanho do wafer: N / D | Envio: EXW

2010 Kobelco SBW-330

• Fabricante: Kobelco
• Modelo: SBW-330

Detalhes: Teste e metrologia de wafer | Remessa: A embalagem e o envio são de responsabilidade do comprador | Comentários: SBW-330 Teste e metrologia de wafer

2006 HITACHI HD2300A

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: HD 2300

Tamanho do wafer: N / D | Processo: Microscópio eletrônico de transmissão de varredura (STEM) | Envio: EXW

2011 HITACHI NB-5000

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: NB5000

Tamanho do wafer: N / D | Processo: FIB Sem | Envio: EXW