Building Filters
TDK-Lambda, NV-350, fonte de alimentação modular
- Fabricante: TDK Lambda
Número de série.: N / D | Quantidade: 1 | Detalhes do equipamento: Fonte de alimentação modular | Equipamentos: Fonte de alimentação modular | Descrição: N / D
Suwon, Coreia do Sul
Changshin Science, MSH-1, Placa de aquecimento
- Fabricante: Changshin Science
Número de série.: N / D | Quantidade: 2 | Detalhes do equipamento: Placa de aquecimento | Equipamentos: Placa de aquecimento | Descrição: 200x200x120mm, velocidade 60~2000rpm, temperatura até 300℃
Suwon, Coreia do Sul
K&K, 6,0 pol., HOTPLATE
- Fabricante: ZOLL
Número de série.: N / D | Quantidade: 1 | Detalhes do equipamento: CHAPA QUENTE | Equipamentos: CHAPA QUENTE | Descrição: 6 polegadas
Suwon, Coreia do Sul
Coreia do Sul
Coreia do Sul
Coreia do Sul
VERTEQ SUPERCLEAN 1600
- Fabricante: Verteq
- Modelo: SUPERCLEAN 1600
Gyeonggi, Coreia do Sul
Anseong, Coreia do Sul
2011 AXCELIS INTEGRA
- Fabricante: Axcelis
- Modelo: Integra
Tamanho do wafer: 12" | Processo: Sistema de tira seca a plasma ES | Envio: EXW`
Seul, Coreia do Sul
Coreia do Sul
LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
- Fabricante: Leica
Processo: Microscópio de inspeção de wafer | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW
Coreia do Sul
HP 4145B
- Fabricante: HP
- Modelo: 4145B
Processo: PARÂMETRO DO SEMICONDUTOR | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW
Coreia do Sul
LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
- Fabricante: Leica
Processo: Microscópio de inspeção de wafer | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW
Coreia do Sul
LEICA AG KENSINGTON 300901
- Fabricante: Leica
- Modelo: KENSINGTON 300901
Processo: Microscópio de inspeção de wafer | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW
Coreia do Sul
LEICA AG KENSINGTON 300901
- Fabricante: Leica
- Modelo: KENSINGTON 300901
Processo: Microscópio de inspeção de wafer | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW
Coreia do Sul