Usado etc in Busan, Coreia do Sul

LEICA AG KENSINGTON 300901

• Fabricante: Leica
• Modelo: KENSINGTON 300901

Processo: Microscópio de inspeção de wafer | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

LEICA AG KENSINGTON 300901

• Fabricante: Leica
• Modelo: KENSINGTON 300901

Processo: Microscópio de inspeção de wafer | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

APPILED MATERIALS JEOL JWS-7500E

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JWS-7500E

Tamanho do wafer: 8" | Processo: Sistema de inspeção de wafer | Envio: EXW

CARLZEISS AXIOTON

• Fabricante: CARLZEISS

Processo: MICROSCÓPIO DE INSPEÇÃO | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

EXPEDIUS

Tamanho do wafer: 12" | Processo: DUMMY CLN | Envio: EXW

NIDEC IM 15

• Fabricante: Nidec-Shimpo

Processo: Inspeção de wafer | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

LUMONICS SUPERCLEAN

• Fabricante: LUMONICS

Tamanho do wafer: 8" | Processo: Sistema de marcação a laser | Envio: EXW`

IWATANI LNS-1

• Fabricante: IWATANI

Detalhes: Fornecedor de nitrogênio líquido | Remessa: A embalagem e o envio são de responsabilidade do comprador | Comentários: Fornecedor de nitrogênio líquido IWATANI LNS-1

OLYMPUS MX80

• Fabricante: Olympus
• Modelo: MX80

Tamanho do wafer: 8", 12" | Processo: Escopo | Envio: EXW

1995 DNS SK 80BW AVPE

• Fabricante: Dainippon Screen
• Modelo: SK-80BW-AVPE

Tamanho do wafer: 8" | Envio: EXW

Nanometrics Caliper_MOSAIC

• Fabricante: Nanometrics
• Modelo: CALIPERMOSAIC

Remessa: A embalagem e o envio são de responsabilidade do comprador | Comentários: Calibrador Nanometrics_MOSAIC

E-TECH SOLUTION INSPECTION SCOPE

• Fabricante: Kannegiesser-Etech

Processo: ESCOPO DA INSPEÇÃO | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

TTS DXL-800HS-CE

• Fabricante: TTS

Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

1998 NICOLET MAGNA 560 FT-IR

• Fabricante: Nicolet
• Modelo: MAGNA 560 FT-IR

Processo: Espectrômetro | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW

LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

• Fabricante: Leica

Processo: Microscópio de inspeção de wafer | Tamanho do wafer: * | Envio: EXW